Characterization of dislocation microstructures in near-[-111] single crystalcopper using high-voltage scanning transmission electron microscopy

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Characterization of dislocation microstructures in near-[-111] single crystalcopper using high-voltage scanning transmission electron microscopy

著者

和文:	WANG Bohan, 木村匠, 宮澤知孝, 荒井重勇, 藤居俊之.
英文:	Bohan Wang, Takumi Kimura, Tomotaka Miyazawa, Shigeo Arai, Toshiyuki Fujii.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Materials Science & Engineering A

巻, 号, ページ

Vol. 862 pp. 144482

出版年月

2022年12月10日

出版者

和文:
英文:	Elsevier

会議名称

和文:
英文:

開催地

和文:
英文:

DOI