Top-K Confidence Map Aggregation for Robust Semantic Segmentation Against Unexpected Degradation

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Top-K Confidence Map Aggregation for Robust Semantic Segmentation Against Unexpected Degradation

著者

和文:	森安宙, 柴田剛志, 田中正行, 奥富正敏.
英文:	Yu Moriyasu, Takashi Shibata, Masayuki Tanaka, Masatoshi Okutomi.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:	Proceedings of IEEE 41st International Conference on Consumer Electronics (ICCE2023)

巻, 号, ページ

pp. 1-6

出版年月

2023年1月

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	IEEE 41st International Conference on Consumer Electronics (ICCE2023)

開催地

和文:
英文:	Las Vegas, NV

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DOI