Bayesian estimation approach for error detection in single-electron manipulation

論文・著書情報

タイトル

和文:
英文:	Bayesian estimation approach for error detection in single-electron manipulation

著者

和文:	坂本剛, 高橋一斗, 近藤知宏, 溝口来成, 小寺哲夫, 米田淳.
英文:	G. Sakamoto, K. Takahashi, C. Kondo, R. Mizokuchi, T. Kodera, J. Yoneda.

言語

English

掲載誌/書名

和文:
英文:

巻, 号, ページ

出版年月

2023年12月11日

出版者

和文:
英文:

会議名称

和文:
英文:	MRM2023/IUMRS-ICA2023

開催地

和文:
英文:	Kyoto