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論文・著書情報
タイトル
和文:
A new scheme for Imaging on-chip dry DNA spots using optical/potential dual-image complementary metal oxide semiconductor sensor
英文:
A new scheme for Imaging on-chip dry DNA spots using optical/potential dual-image complementary metal oxide semiconductor sensor
著者
和文:
Tokuda, Takashi, Kadowaki, Issei, Kagawa, Keiichiro, Nunoshita, Masahiro, Ohta, Jun,
德田崇
.
英文:
Tokuda, Takashi, Kadowaki, Issei, Kagawa, Keiichiro, Nunoshita, Masahiro, Ohta, Jun,
Takashi Tokuda
.
言語
English
掲載誌/書名
和文:
Japanese Journal of Applied Physics Part 1-Regular Papers Brief Communications & Review Papers
英文:
Japanese Journal of Applied Physics Part 1-Regular Papers Brief Communications & Review Papers
巻, 号, ページ
Vol. 46 No. 4B pp. 2806-2810
出版年月
2007年
出版者
和文:
英文:
会議名称
和文:
英文:
開催地
和文:
英文:
公式リンク
http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=ORCID&SrcApp=OrcidOrg&DestLinkType=FullRecord&DestApp=WOS_CPL&KeyUT=WOS:000247050200211&KeyUID=WOS:000247050200211
DOI
https://doi.org/10.1143/JJAP.46.2806
©2007
Institute of Science Tokyo All rights reserved.