国内会議発表 (査読なし・不明)

• 高谷正明, 近藤直弥, 村石信二, 史蹟, 中村吉男. インデンテーションによる多層薄膜の圧痕周囲のTEM断面組織観察, 日本金属学会 2009年秋期（第145回）大会, 日本金属学会 2009年秋期（第145回）大会 概要, 社団法人 日本金属学会, Sept. 2009.
• 近藤直弥, 村石信二, 史蹟, 中村吉男. ナノインデンテーションによるAl-4wt%Cu/Al2Cu 基板上薄膜のヤング率評価, 日本金属学会講演概要(第141回・岐阜), p. 476, Sept. 2007.

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