国内会議発表 (査読有り)

• 鶴見敬章, 山崎幹雄, 和泉達也, 保科拓也, 武田博明. 高温高耐圧コンデンサの絶縁破壊機構, 第32回強誘電体応用会議, May 2015.

国際会議発表 (査読なし・不明)

• Takaaki Tsurumi, Takuya Hoshina, Mikio Yamazaki, Hiroaki Takeda. Dielectric Breakdown Mechanism of Dielectric Ceramics for High-Temperature Capacitors, 17th US-Japan Seminar on Dielectric and Piezoelectric Ceramics, Nov. 2015.
• Takaaki Tsurumi, Mikio Yamazaki, Ryoma Ishikawa, Takuya Hoshina, Hiroaki Takeda. Material Engineering for Future MLCCs, The 11th International Conference of Pacific Rim Ceramic Societies(PacRim-11), Aug. 2015.
• Takaaki Tsurumi, Mikio Yamazaki, Takuya Hoshina, Hiroaki Takeda. Reconsidering Dielectric Breakdown Mechanisms for Realizing High-Temperature Capacitors, 2015 JOINT ISAF-ISIF-PFM CONFERENCE, May 2015.
• Takuya Hoshina, Mikio Yamazaki, Hiroaki Takeda, Takaaki Tsurumi. Dielectric Breakdown Mechanism of Perovskite-Structured Ceramics, 11th International Conference and Exhibition on Ceramic Interconnect and Ceramic Microsystems Technologies (CICMT 2015), Apr. 2015.
• Mikio Yamazaki, Tatsuya Izumi, Takuya Hoshina, Hiroaki Takeda, Takaaki Tsurumi. Dielectrric Breakdown Mechanism of CaTiO3 Ceramics, The 6th China-Japan Symposium on Ferroelectric Materials and Their Applications, Oct. 2014.
• Takaaki Tsurumi, Mikio Yamazaki, Kazuki Kanehara, Hiroaki Takeda, Takuya Hoshina. New Prospects for Dielectric Breakdown and Dielectric Relaxation, AFM-AMEC-2014, Oct. 2014.
• Takaaki Tsurumi, Tatsuya Izumi, Mikio Yamazaki, Takuya Hoshina, Hiroaki Takeda. Design of High Temperature Capacitors--Dielectric Permittivity and Break-Down strength, 16th US-Japan Seminar on Dielectric and Piezoelectric Materials, Nov. 2013.

国内会議発表 (査読なし・不明)

• 鶴見敬章, 山崎幹雄, 武田博明, 保科拓也. 高温用セラミックキャパシターの絶縁破壊メカニズム, 日本セラミックス協会第28回秋季シンポジウム, Sept. 2015.
• 山崎幹雄, 和泉達也, 保科拓也, 武田博明, 鶴見敬章. ZrTiO4-SrTiO3複合材料の誘電特性と熱膨張係数の評価, 日本セラミックス協会2015年年会, Mar. 2015.
• 山崎幹雄, 和泉達也, 保科拓也, 武田博明, 鶴見敬章. CaTiO3セラミックスの絶縁破壊のメカニズムとMn添加の効果, 日本セラミックス協会2015年年会, Mar. 2015.
• 山崎幹雄, 和泉達也, 保科拓也, 武田博明, 鶴見敬章. Ca(Zr,Ti)O3セラミックスの絶縁破壊強度と誘電率の関係性, 第33回エレクトロセラミックス研究討論会, Oct. 2013.
• 和泉 達也, 山崎 幹雄, 保科 拓也, 武田 博明, 鶴見 敬章. セラミックスの絶縁破壊電界強度と誘電率の関係, 日本セラミックス協会2013年年会, Mar. 2013.

その他の論文・著書など

• 鶴見敬章, 山崎幹雄, 保科拓也, 武田博明. セラミックス誘電体の絶縁破壊機構とその温度依存性, セラミックス, Vol. 51, Oct. 2016.

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