国際会議発表 (査読有り)

• Y. Takei, M. Okamoto, W. Saito, K. Tsutsui, K. Kakushima, H. Wakabayashi, Y. Kataoka, H. Iwai. Ohmic Contact Properties Depending on AlGaN Layer Thickness for AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistor Structures, 225th ECS Meeting, May 2014.
• K. Kakushima, K. Okamoto, K. Tachi, S. Sato, J. Song, T. Kawanago, P. Ahmet, N. Sugii, K. Tsutsui, T. Hattori, H. Iwai. Interfacial Dipole Measurement of Dielectric/Silicon Interface by X-ray Photoelectron Spectroscopy, 214th ECS Meeting (PRiME 2008), Oct. 2008.

国内会議発表 (査読有り)

• 岡本巧馬, 西方敦博, 緑雅貴, 栗原弘. ミリ波帯平行ビーム系におけるレンズ面の反射低減と材料定数測定, 2021年電子情報通信学会総合大会, 2021年電子情報通信学会総合大会講演論文集, Mar. 2021.

国内会議発表 (査読なし・不明)

• 岡本巧馬, 西方敦博, 緑雅貴, 栗原弘. ミリ波帯集束・平行ビーム共用測定系におけるレンズアンテナ系設計とビーム焦点の電界分布測定, 電子情報通信学会 環境電磁工学研究会, 信学技報, Vol. 120, No. 265, pp. 1-6, Nov. 2020.
• 岡本巧馬, 西方敦博. ミリ波帯集束・平行ビーム共用測定系の構築および異方性平板材料に対する伝送・反射特性の計算手順の改善について, 電子情報通信学会 環境電磁工学研究会, 信学技報, Apr. 2020.
• 岡本 巧馬, 西方敦博, 栗原 弘. 集束ビーム法による異方性平板材料測定系構築のための平面波スペクトル表示による定式化, 電子情報通信学会EMCJ研究会 若手研究者発表会, 信学技報, Vol. 119, No. 124, pp. 1-5, July 2019.

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