論文

• Kenta Aoyagi, Takanori Kiguchi, Yoshitaka Ehara, Tomoaki Yamada, Hiroshi Funakubo. Diffraction contrast analysis of 90o and 180o ferroelectric domain structures of PbTiO3 thin films, Sci. Technol. Adv. Mater., Vol. 12, pp. 0344031-6, July 2012.
• Ryoichi Saotome, Naoki Wakiya, Takanori Kiguchi, Jeffrey S. Cross, Osamu Sakurai, Kazuo Shinozaki. Characterization of Low Temperature Chemical Vapor Deposited Gd₂O₃ Doped CeO₂ Films, Key Engineering Materials, Vol. 485, pp. 133-136, July 2011.
• Takanori Kiguchi, Kenta Aoyagi, Yoshitaka Ehara, Hiroshi Funakubo, Tomoaki Yamada, Noritaka Usami, Toyohiko J Konno. Configuration and local elastic interaction of ferroelectric domains and misfit dislocation in PbTiO3/SrTiO3 epitaxial thin films, Sci. Technol. Adv. Mater., Vol. 12, pp. 034413-1-9, 2011.
• Takanori Kiguchi, Toyohiko J. Konno, Naoki Wakiya, Kazuo Shinozaki. Aberration-Corrected HRTEM Analysis of Transition Structure in Phase Boundary of ZrO₂ Ultra-Thin Film, Mater. Res. Soc. Symp. Proc., Vol. 1231, pp. 44-49, Dec. 2010.
• Hyun-young Go, Naoki Wakiya, Takanori Kiguchi, Tomohiko Yoshioka, Osamu Sakurai, Jeffrey S. Cross, Junzo Tanaka, Kazuo Shinozaki. Ferroelectric Properties of Epitaxial BiFe_0.97Mn_0.03O₃ Thin Films with Different Crystal Orientations Deposited on Buffered Si Substrates, Key Engineering Materials, Vol. 421-422, pp. 111-114, 2010.
• Naoki Wakiya, Yuusuke Kimura, Naonori Sakamoto, Desheng Fu, Toru Hara, Takashi Ishiguro, Takanori Kiguchi, Kazuo Shinozaki, Hisao Suzuki. Doping effect of Dy on leakage current and oxygen sensing property of SrTiO3 thin film prepared by PLD, J. Ceram. Soc. Japan, vol. 117, No. 9, pp. 1004-1008, Sept. 2009.
• Rintarou Morohashi, Naoki Wakiya, Takanori Kiguchi, Tomohiko Yoshioka, Junzo Tanaka, Kazuo Shinozaki. Preparation of Epitaxial LiNbO3 Thin Film by MOCVD and Its Properties, Key Engineering Materials, Vol. 388, pp. 179-182, June 2009.
• Takanori Kiguchi, Naoki Wakiya, Kazuo Shinozaki, Toyohiko J. Konno. Valence-EELS analysis of local electronic and optical properties of PMN-PT epitaxial film, Materials Science and Engineering B, Vol. 161, No. 1-3, pp. 160-165, Apr. 2009.
• Yasuhiro Fujiwara, Takanori Kiguchi, Tomohiko Yoshioka, Kazuo Shinozaki, Junzo Tanaka. Electronic structure analyses of the interface between a high refractive index optical glass and carbides, Materials Science and Engineering B, Vol. 161, No. 1-3, pp. 20-26, Apr. 2009.
• Takeshi Kondo, Yutaka Sawada, Hiroshi. Funakubo, Kensuke Akiyama, Takanori Kiguchi. Good conformability of indium-tin-oxide thin films prepared by spray chemical vapor deposition, Electrochem. Solid-State Lett., Vol. 12, No. 5, pp. D42-D44, 2009.
• Ji-Won Moon, Naoki Wakiya, Keisuke Fujito, Naohiko Iimori, Takanori Kiguchi, Tomohiko Yoshioka, Junzo Tanaka, Kazuo Shinozaki. Effect of seed layer deposition time and thickness on low-temperature crystallization and electrical properties of Pb(Zr,Ti)O3 films by metalorganic chemical vapor deposition, Materials Science and Engineering B, Vol. 148, p. 22-25, May 2008.
• KAZUO SHINOZAKI, Shogo Hayashi, Naoki Wakiya, TAKANORI KIGUCHI, Junzo Tanaka, NOBUO ISHIZAWA, keisuke sato, Masao Kondo, Kazuaki Kurihara. Fabrication and Optical Properties of Pb(Mg1/3Nb2/3)O3-PbTiO3 Thin Films on Si Substrates using PLD Method, IEEE Transaction on Ultrasonics, Ferroelectrics, and Frequency Control, Vol. 55, No. 5, p. 1023-1028, May 2008.
• Takanori Kiguchi, Naoki Wakiya, Junzo Tanaka, Kazuo Shinozaki. Advantage of the structure and the electrical properties of epitaxial ultra-thin zirconia gate dielectrics, Materials Science and Engineering B, Vol. 148, p. 30-34, May 2008.
• T. Kondo, Yutaka Sawada, Kensuke Akiyama, HIROSHI FUNAKUBO, TAKANORI KIGUCHI, S. Seki, M.H. Wang, T. Uchida. “Step coverage study of indium-tin-oxide thin films by spray CVD on non-flat substrates at different temperatures”, Thin Solid Films,, Vol. 516, pp. 5864–5867, 2008.
• Naoki Wakiya, Toyokazu Nagamune, JI-WON MOON, TAKANORI KIGUCHI, NOBUYASU MIZUTANI, Hisao Suzuki, Kazuo Shinozaki. The effect of SrTiO₃ seed and application of in-situ magnetic field on the preparation of Pb(Zr,Ti)O₃ thin film by pulsed laser deposition, Trans. Mater. Res. Soc. Jpn., Vol. 32, pp. 99-104, Dec. 2007.
• Shogo Hayashi, Naoki Wakiya, Takanori Kiguchi, Junzo Tanaka, Kazuo Shinozaki. Fabrication and Microstructural Change of PMN-PT Thin Films on Si Substrates by PLD with Mask and Double-Pulse Lazer Excitation, Key Engineering Materials, Vol. 350, p. 111-114, June 2007.
• Tomohiro Tabara, Naoki Wakiya, Takanori Kiguchi, Junzo Tanaka, Kazuo Shinozaki. Fabrication of HfO2 Thin Film on Si Substrate by Double-Pulse Excitation PLD, Key Engineering Materials, Vol. 350, p. 129-132, June 2007.
• Naoki Wakiya, Keisyu Muraoka, TAKANORI KIGUCHI, NOBUYASU MIZUTANI, K. Shinozaki. Preparation of ferromagnetic zinc-ferrite thin film by pulsed laser deposition in the magnetic field, J. Magnetism and Magnetic Mater., Vol. 310, No. 3, pp. 2546-2548, Mar. 2007.
• Kazuo Shinozaki, Masayasu Kasahara, TAKANORI KIGUCHI, NOBUYASU MIZUTANI, Naoki Wakiya. Preparation and Structure of Lead Magnesium Niobate Titanate Film by Double-Pulse Excitation using Nd:YAG and KrF Excimer Lasers, Jap. J. Applied Phys., Vol. 46, No. 2, pp. 657-659, 2007.
• Minoru Osada, Kosho Akatsuka, Yasuo Ebina, Hiroshi Funakubo, Takanori Kiguchi, Kazunori Takada, Takayoshi Sasaki. “Solution-Based Fabrication of High-κ Dielectric Nanofilms Using Titania Nanosheets as a Building Block”, Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 46, No. 10B, pp. 6979-6983., 2007.
• Kensuke Akiyama, Satoru Kaneko, Takanori Kiguchi, Takashi Suemasu, Takeshi Kimura, Hiroshi Funakubo. Crystal Growth of β-FeSi2 Thin Film on (100), (110) and (111) Plane of Si and Yittria-Stabilized Zirconia Substrates”, Mater. Res. Soc. Symp. Proc., Vol. 980, pp. 0980-II05-47, 2007.
• Tooru Onoue, Naoki Wakiya, Kohichi Seo, Takanori Kiguchi, Nobuyasu Mizutani, Kazuo Shinozaki. In-situ Simultaneous Observation of Phase Transition and Electrical Properties of Pb(Zr,Ti)O3 Thin Film by High Temperature XRD and Electrical Measurement Apparatus, 　, Key Engineering Materials, Vol. 320, pp. 57-60, Aug. 2006.
• Keisuke Fujito, Naoki Wakiya, Takanori Kiguchi, Nobuyasu Mizutani, Kazuo Shinozaki. Effect of PZT Thin Film Orientation on Residual Stress and Electric Properties on Buffer/Si, 　, Key Engineering Materials, Vol. 320, pp. 65-68, Aug. 2006.
• T. Yamada, J. Petzelt, A. K. Tagantsev, S. Denisov, D. Noujni, P. K. Petrov, A. Mackova, K. Fujito, T. Kiguchi, K. Shinozaki, N. Mizutani, V. O. Sherman, P. Muralt, N. Setter. In-plane and out-of-plane ferroelectric instabilities in epitaxial SrTiO3 films, Physical Review Letter, Vol. 96, pp. 157602, June 2006.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 水谷惟恭, 篠崎和夫. 高分解能分析電子顕微鏡による二酸化セリウム/イットリア安定化ジルコニア/シリコンヘテロ界面構造の原子スケール構造評価, 分析化学, Vol. 55, No. 06, pp. 419-426, June 2006.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 水谷惟恭, 篠崎和夫. 高分解能分析電子顕微鏡による二酸化セリウム/イットリア安定化ジルコニア/シリコンヘテロ界面構造の原子スケール構造評価, 分析化学, Vol. 55, No. 6, pp. 419-426, June 2006.
• Naoki Wakiya, Naoya Tajiri, Takanori Kiguchi, Nobuyasu Mizutani, Jeffrey S.Cross, Kazuo Shinozaki. Activation energy of oxygen vacancy diffusion of yttria-stabilized-zirconia thin film determined from dc current measurements below 150°C, Japanese Journal of Applied Physics, Vol. 45, No. 20, L525-528, May 2006.
• Minoru Osada, Yasuo Ebina, Hiroshi Funakubo, Shintaro Yokoyama, Takanori Kiguchi, Kazunori Takada, Takayoshi Sasaki. High-Dielectric Nano-Films Fabricated with Titania Nanosheets, Advanced Materials, Vol. 18, pp. 1023-1027, Apr. 2006.
• Naru Nemoto, Naoki Wakiya, Kazuo Shinozaki, Nobuyasu Mizutani, Takanori Kiguchi, Keisuke Sato, Masatoshi Ishii, Masao Kondo, Kazuaki Kurihara. Preparation and optical properties of epitaxial Pb(Mg1/3,Nb2/3)O3 thin film on Si substrates with buffer layer using pulsed laser deposition, Key Engineering Materials, Vol. 301, pp. 265-268, 2006.
• Takanori Kiguchi, Naoki Wakiya, Kazuo Shinozaki, Nobuyasu Mizutani. Investigation of domain structure and electrical properties of monoclinic epitaxial zirconia buffer layer, Key Engineering Materials, Vol. 301, pp. 261-264, 2006.
• Satoshi Wada, a Koichi Yako, Hirofumi Kakemoto, Takaaki Tsurumi, Takanori Kiguchi. Enhanced Piezoelectric Properties of Barium Titanate Single Crystals with the Different Engineered Domain Sizes, Journal of Applied Physics, Vol. 98, pp. 014109, July 2005.
• Takanori Kiguchi, Naoki Wakiya, Kazuo Shinozaki, Nobuyasu Mizutani. High Temperature In situ Cross-Sectional TEM Investigation of Crystallization Process of Yttrium Stabilized Zirconia/Si and Yttrium Stabilized Zirconia/SiOx/Si thin films, Journal of Materials Research, Vol. 20, No. 7, pp. 1878-1887, July 2005.
• Naoki Wakiya, Toyokazu Nagamune, Takanori Kiguchi, Kazuo Shinozaki, Nobuyasu Mizutani. In-Situ Magnetic Field Induced Structure and Properites of Epitaxial Spinel Ferrite Thin Films Prepared by Pulsed Laser Depositio(PLD) (Dynamic Aurora PLD Method), Abstract of 2004 Materials Research Society Fall Meeting, pp. 0, June 2005.
• Takanori Kiguchi, Naoki Wakiya, Kazuo Shinozaki, Nobuyasu Mizutani. IN-SITU TEM INVESTIGATION OF STRUCTURAL CHANGES IN ZIRCONIA/SILICON HETEROSTRUCTURE AT ELEVATED TEMPERATURE, International Journal of Nanoscience, Vol. 3, No. 6, pp. 699-705, Dec. 2004.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. YSZシード層によるSi(001)基板上へのCeO2薄膜のエピタキシャル成長, まてりあ, まてりあ, Vol. 43, No. 12, pp. 988, Dec. 2004.
• Takanori KIGUCHI, Naoki WAKIYA, Kazuo SHINOZAKI, Nobuyasu MIZUTANI. AEM investigation of interface structure of Y2O3-Ta2O5 co-doped zirconia buffer layer, Key Engineering Materials, Vol. 269, pp. 237-240, June 2004.
• Takanori KIGUCHI, Naoki WAKIYA, Kazuo SHINOZAKI, Nobuyasu MIZUTANI. In-situ TEM analysis of Crystallization of Zirconia/Silicon heterostructure, Journal of the Ceramic Society of Japan, Vol. 112, No. 5[Supplement], pp. S1471-1475, May 2004.
• Takanori KIGUCHI, Naoki WAKIYA, Kazuo SHINOZAKI, Nobuyasu MIZUTANI. HRTEM Investigation of Interface Structure of Y and Ta Co-doped Zirconia/Silicon Heterostructure, Journal of the Ceramic Society of Japan, Vol. 112, No. 5[Supplement], pp. S1111-S1114, May 2004.
• Kenji Takahashi, Hiroshi Funakubo, Shiro Hino, Makoto Nakayama, Naoki Oohashi, Takanori Kiguchi, Eisuke Tokumitsu. Effect of Deposition Temperature on the Characteristics of Hafnium Oxide Films Deposited by MOCVD using Amide Precursor, Journal of Material Research, Vol. 19, No. 2, pp. 584-589, Feb. 2004.
• Tomoaki YAMADA, Takanori KIGUCHI, Naoki WAKIYA, Kazuo SHINOZAKI, Nobuyasu MIZUTANI. Role of the First Atomic Layers in Epitaxial Relationship and Interface Characteristics of SrTiO3 Films on CeO2/YSZ/Si(001), Materials Research Society Symposium Proceeding, Materials Research Society Symposium Proceeding, Vol. 747, pp. 9-14, June 2003.
• Takanori KIGUCHI, Naoki WAKIYA, Kazuo SHINOZAKI, Nobuyasu MIZUTANI. HRTEM INVESTIGATION OF 90°DOMAIN CONFIGURATION AND P-E HYSTERESIS LOOP OF EPITAXIAL PZT MULTILAYERED THIN FILMS, Materials Research Society Symposium Proceeding, Materials Research Society Symposium Proceeding, Vol. 748, pp. 243-254, June 2003.
• Takanori KIGUCHI, Naoki WAKIYA, Kazuo SHINOZAKI, Nobuyasu MIZUTANI. HRTEM INVESTIGATION OF EFFECT OF VARIOUS RARE EARTH OXIDE DOPANTS ON EPITAXIAL ZIRCONIA HIGH-K GATE DIELECTRICS, Materials Research Society Symposium Proceeding, Materials Research Society Symposium Proceeding, Vol. 745/747, pp. 361-366/171-176, June 2003.
• Takanori KIGUCHI, Naoki WAKIYA, Kazuo SHINOZAKI, Nobuyasu MIZUTANI. Improvement of C-V characteristics and control of interlayer growth of rare earth oxide stabilized zirconia epitaxial gate dielectrics, Key Engineering Materials, Key Engineering Materials, Vol. 248, pp. 137-140, June 2003.
• Takanori Kiguchi, Naoki Wakiya, Kazuo Shinozaki, Nobuyasu Mizutani. Role of Ultra Thin SiOx Layer on Epitaxial YSZ/SiOx/Si Thin Film, Integrated Ferroelectrics, Vol. 51, pp. 51-61, 2003.
• C.H.Chen, Takanori KIGUCHI, Astushi Saiki, Naoki WAKIYA, Kazuo SHINOZAKI, Nobuyasu MIZUTANI. Characterization of defect type and dislocation density in double oxide heteroepitaxial CeO2/YSZ/Si(001) films, Applied Physics A, Vol. 76, pp. 969-973, 2003.
• Takanori Kiguchi, Naoki Wakiya, Kazuo Shinozaki, Nobuyasu Mizutani. HRTEM investigation of 90°domain structure and ferroelectric　properties of multi-layered PZT thin films, Microelectronic Engineering, Vol. 66, No. 1-4, pp. 708-712, 2003.
• Takanori Kiguchi, Naoki Wakiya, Kazuo Shinozaki, Nobuyasu Mizutani. SiOx formation process between YSZ and Si substrate in YSZ/SIOx/Si thin films by in-situ TEM analysis, Key Engineering Materials, Vol. 216, pp. 153-156, June 2002.
• Takanori Kiguchi, Naoki Wakiya, Kazuo Shinozaki, Nobuyasu Mizutani. Analysis of formation process of ferroelectric domain structure in PZT thin films by in-situ TEM, Key Engineering Materials, Key Engineering Materials, Vol. 228-229, pp. 203, June 2002.
• Kazuo SHINOZAKI, Mitsunori Sugiura, Daisuke Nagano, Takanori KIGUCHI, Naoki WAKIYA, Nobuyasu MIZUTANI. Growth Behavior of Bi and Nb Co-Added-SrTiO3 Thin Film Exhibiting Varistor CharacteRISTICS BY Metal-organic Chemical Vapor Deposition, Journal of The Ceramics Society of Japan, Vol. 110, No. 5, pp. 416-420, May 2002.
• Takanori KIGUCHI, Naoki WAKIYA, Kazuo SHINOZAKI, Nobuyasu MIZUTANI. Role of Ultra Thin SiOx Layer for Epitaxial Growth of YSZ/SiOx/(001)Si Thin Films, Journal of The Ceramic Society of Japan, Vol. 110, No. 5, pp. 338-342, May 2002.
• Kazuo Shinozaki, Nobuo Yokomura, Takuyoshi Itoh, Takanori KIGUCHI, Naoki WAKIYA, Nobuyasu MIZUTANI. Controlling Crystallinity and Crystal Orientation of PbTiO3and Pb(Zr,Ti)O3 Thin Films by Introducing Different Seed Layers, Journal of The Ceramics Society of Japan, Vol. 110, No. 5, pp. 362-367, May 2002.
• 木口賢紀, 杉浦充典, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. SrTiO3/MgO薄膜界面の高密度不整合転位構造, 日本セラミックス協会2002年年会予稿集, 日本セラミックス協会2002年年会予稿集, pp. 312, Mar. 2002.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. PZT薄膜の90°ドメイン構造のTEM観察と強誘電特性, 電子情報通信学会技術研究報告, Vol. SDM2001, No. 264, pp. 13, Feb. 2002.
• Naoki Wakiya, Makoto Yoshida, Takanori Kiguchi, Kazuo Shinozaki, Nobuyasu Mizutani. RF-magnetron sputtered heteroepitaxial YSZ and CeO2/YSZ/Si(001) thin films with improved capacitance-voltage characteristics, Thin Solid Films, Vol. 411, pp. 268-273, 2002.
• Madhu Sudan Saha, Yong Che, Takeyoshi Okajima, Takanori Kiguchi, Yoshiyuki Nakamura, Koichi Tokuda, Takeo Ohsaka. Current oscillation behavior of the O2/O2- redox couple at a HMDE in non-aqueous aprotic media, Journal of Electroanalytical Chemistry, Vol. 469, pp. 61-68, 2001.
• C.H.Chen, N.Wakiya, A.Saiki, T.Kiguchi, K.Shinozaki, N.Mizutani. Defects in heteroepitaxial CeO2/YSZ/Si(001) films by precise X-ray rocking curve distribution fitness, Physica B, Vol. 308-310, pp. 1050-1053, 2001.
• Takanori Kiguchi, Naoki Wakiya, Kazuo Shinozaki, Nobuyasu Mizutani. Structure Analysis of CeO2/ZrO2/Si Multilayered Thin Films by HRTEM, Materials Research Society Symposium Proceeding, Materials Research Society Symposium Proceeding, Vol. 592, pp. 183-186, June 2000.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. 花火, 日本セラミックス協会年会予稿集　第25回セラミックスに関する顕微鏡写真展, 日本セラミックス協会2000年年会予稿集, 日本セラミックス協会2000年年会予稿集, No. 1E02, pp. 306, Mar. 2000.
• Naoki Wakiya, Makoto Yoshida, Tomoaki Yamada, Takanori Kiguchi, Kazuo Shinozaki, Nobuyasu Mizutani. Preparation and Structure of Epitaxial CeO2/YSZ/Si Buffer Layer, Grain Boundary Engineering in Ceramics, pp. 483-490, 2000.
• Hiroshi Uchida, Takanori Kiguchi, Naoki Wakiya, Kazuo Shinozaki, Nobuyasu Mizutani. Stress Determination in Epitaxial Lead Titanate Films by Asymmetric X-ray Diffraction Method, The Korean Jouranal of Ceramics, Vol. 6, No. 4, pp. 358-389, 2000.
• H.Uchida, T.Kiguchi, A.Saiki, N.Wakiya, N.Ishizawa, K.Shinozaki, N.Mizutani. Measurment Technique for the Evaluation of Residual Stress in Epitaxial Thin Film by Asymmetric X-ray Diffraction, Journal of The Ceramic Society of Japan, Vol. 107, No. 7, pp. 606-610, July 1999.
• Takanori Kiguchi, Atsushi Saiki, Kazuo Shinozaki, Nobuyasu Mizutani. Effect of the Species of Substituted ion on ferroelastic domain switching of rare earth ion doped ZrO2 pseudo-single crystals, Journal of Materials Research Society, Vol. 14, No. 1, pp. 142-145, 1999.
• 木口賢紀, 佐伯淳, 篠崎和夫, 寺山清志, 水谷惟恭. 3mol%Y2O3-ZrO2の強弾性ドメインスイッチングに及ぼす相分離の影響, 日本セラミックス協会学術論文誌, Vol. 105, No. 12, pp. 1136-1140, Dec. 1997.
• 木口賢紀, 佐伯淳, 篠崎和夫, 寺山清志, 水谷惟恭. セリア部分安定化ジルコニアの軸比と強弾性ドメインスイッチングの臨界応力の関係, 日本セラミックス協会学術論文誌, Vol. 105, No. 10, pp. 871-875, Oct. 1997.
• 木口賢紀, 佐伯淳, 篠崎和夫, 寺山清志, 水谷惟恭. ジルコニアの強弾性ドメインスイッチングにおける希土類イオン半径の影響, 日本セラミックス協会学術論文誌, Vol. 105, No. 9, pp. 775-778, Sept. 1997.
• 木口賢紀, 佐伯淳, 篠崎和夫, 寺山清志, 水谷惟恭. セリア部分安定化ジルコニアの強弾性ドメインスイッチングの臨界応力に及ぼす軸比の影響, 日本セラミックス協会学術論文誌, Vol. 105, No. 10, pp. 871-875, 1997.
• 木口賢紀, 漆原亘, 佐伯淳, 篠崎和夫, 水谷惟恭. ジルコニアの強弾性ドメインスイッチングに及ぼす応力，温度の影響, 日本セラミックス協会学術論文誌, Vol. 104, No. 6, pp. 529-534, June 1996.

著書

• 木口賢紀, 山田智明, 水谷惟恭. セラミックス薄膜のバッファ層の科学　-SiO2からバッファ層の選択までー, セラミックデータブック 2005 ，工業製品技術協会, セラミックデータブック 2005 ，工業製品技術協会, Vol. 33, No. 87, pp. 43-49, Oct. 2005.
• 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 木口賢紀, 山田智明, 水谷惟恭. 強誘電性・強磁性マルチフェロイック物質の現状と展望, マテリアルインテグレーション　(TIC), Vol. 19, No. 9, pp. 9-18, Sept. 2006.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. セラミックス, 日本セラミックス協会, Vol. 40, No. 6, pp. 465,469, June 2005.
• 木口賢紀. セラミックス, 日本セラミックス協会, Vol. 40, No. 1, pp. 52, Jan. 2005.
• 水谷惟恭, 木口賢紀. 総合分析支援センターの紹介, 東工大クロニクル, 東工大クロニクル, Vol. 389, No. 6, pp. 8-12, June 2004.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. 日本セラミックス協会学術写真賞　優秀賞　ジルコニア薄膜の柱状粒界形成過程のその場観察, 日本セラミックス協会, Vol. 38, No. 6, pp. 464,466, June 2003.
• 木口賢紀, 水谷惟恭. セラミック薄膜断面のTEMによるその場観察, セラミックデータブック 2001 ，工業製品技術協会, セラミックデータブック 2001 ，工業製品技術協会, Vol. 29, No. 83, pp. 127-130, Oct. 2001.

国際会議発表 (査読有り)

• Takanori Kiguchi, Toyohiko J. Konno, Naoki Wakiya, Kazuo Shinozaki. Aberration-Corrected HRTEM Analysis of Transition Structure in Phase Boundary of ZrO2 Ultra-Thin Film, Mater. Res. Soc. Symp., Mater. Res. Soc. Symp. Proc., Vol. 1231, p. 1231-NN03-12, Dec. 2010.
• Takanori Kiguchi, Toyohiko J. Konno, Naoki Wakiya, Hitoshi Morioka, Keisuke Saito, Kazuo Shinozaki. Nanostructure and strain analysis of CeO₂/YSZ strained superlattice, Materials Science and Engineering B, Vol. 173, No. 1-3, pp. 220-228, Feb. 2010.  公式リンク  
  
• K. Shinozaki, Hyunyoung Go, T. Kiguchi, N. Wakiya, J. S. Cross, O. Sakurai. Crystal orientation control of epitaxial Pb(Zr,Ti)O₃ and BiFeO₃ thin film deposited on atomic layer buffered Si and YSZ substrates, GJ-NST2009 (International Conference on Nano Science and Nano Technology 2009), GJ-NST2009 (International Conference on Nano Science and Nano Technology 2009), No. Th2A-1, p. 54, Nov. 2009.
• Mariko Tamura, Tomohiko Yoshioka, Jeffrey S. Cross, Osamu Sakurai, Junzo Tanaka, Kazuo Shinozaki, Takanori Kiguchi, Naoki Wakiya. Formation of Nickel Zinc Ferrite through Diffusion in NiFe2O4/ZnFe2O4 Layered Thin Films and their Ferromagnetic Properties, The 6th Asian Meeting on Electroceramics (AMEC-6), The 6th Asian Meeting on Electroceramics (AMEC-6), No. P-B-69, p. 207, Oct. 2008.
• Hyun Young Go, Tomohiko Yoshioka, Osamu Sakurai, Jeffrey S. Cross, Junzo Tanaka, Kazuo Shinozaki, Takanori Kiguchi, Naoki Wakiya. Ferroelectric Properties of Epitaxial BiFeO₃ Thin Films with Different Crystal Orientations Deposited on Buffered Si Substrate, The 6th Asian Meeting on Electroceramics (AMEC-6), The 6th Asian Meeting on Electroceramics (AMEC-6), No. O-3C-02, p. 264, Oct. 2008.
• Kazuo Shinozaki, Liu Yanyi, Yuji Ishikura, Tomohiko Yoshioka, Osamu Sakurai, Jeffrey S. Cross, Junzo Tanaka, Takanori Kiguchi, Naoki Wakiya. Electrical Properties of Fluorite Oxide Thin Films on Silicon Substrate, The 6th Asian Meeting on Electroceramics (AMEC-6), The 6th Asian Meeting on Electroceramics (AMEC-6), No. O-3C-03, p. 265, Oct. 2008.
• Hyun Young Go, Naoki Wakiya, Takanori Kiguchi, Tomohiko Yoshioka, Osamu Sakurai, Junzo Tanaka, Kazuo Shinozaki. Control of Epitaxial BiFeO₃/SrRuO₃ Thin Film Orientations Deposited on CeO₂/YSZ/Si Substrate by Introducing an Atomic Layer Buffer, Joint Conferences of The 2nd International Conference on the Science and Technology for Advanced Ceramics (STAC-2), Joint Conferences of The 2nd International Conference on the Science and Technology for Advanced Ceramics (STAC-2), No. PC05, May 2008.
• Mariko Tamura, Osamu Sakurai, Takanori Kiguchi, Naoki Wakiya, Tomohiko Yoshioka, Junzo Tanaka, Kazuo Shinozaki. Formation of Nickel Zinc Ferrite through Diffusion in NiFe₂O₄/ZnFe₂O₄ Layered Thin Films and their Ferromagnetic Properties, Joint Conferences of The 2nd International Conference on the Science and Technology for Advanced Ceramics (STAC2), Joint Conferences of The 2nd International Conference on the Science and Technology for Advanced Ceramics (STAC2), No. PC03, May 2008.
• Ji-Won Moon, Naoki Wakiya, Takanori Kiguchi, Tomohiko Yoshioka, Junzo Tanaka, Kazuo Shinozaki. Role of the SrTiO₃ Seed Layer on Low-Temperature Crystallization of Pb(Zr,Ti)O₃ Films Prepared by Metalorganic Chemical Vapor Deposition, Materials Research Society Symposium (MRS fall Meeting), Materials Research Society Symposium Proceedings (MRS fall Meeting), Vol. 1034E, No. K10-28, Nov. 2007.

国内会議発表 (査読有り)

• 篠崎 和夫, 林 聖悟, 木口 賢紀, 田中 順三, 脇谷 尚樹. エピタキシャル強誘電体酸化物薄膜の作成と光学的性質, 日本セラミックス協会第２０回秋季シンポジウム, 日本セラミックス協会第２０回秋季シンポジウム講演予稿集, No. 1, pp. 1, Sept. 2007.

国際会議発表 (査読なし・不明)

• Kazuo Shinozaki, HyunYoung Go, Takanori Kiguchi, Naoki Wakiya, Jeffrey. S. Cross, Osamu Sakurai. Crystal orientation control of epitaxial Pb(Zr,Ti)O₃ and BiFeO₃ thin films Deposited on atomic layer buffered Si and YSZ substrates, 19th Academic Symposium of MRS-Japan 2009, 19th Academic Symposium of MRS-Japan 2009, No. E-P13, Dec. 2009.
• Kazuo Shinozaki, Yusuke Inaba, Toru Hara, Takanori Kiguchi, Naoki Wakiya, Jeffrey S. Cross, Osamu Sakurai. Possibility of NOx Sensing by using Titania Doped Ferrite Epitaxial Thin Film, The 26th International Japan-Korea Seminar on Ceramics, The 26th International Japan-Korea Seminar on Ceramics, No. 2B-I_2, pp. 169-170, Nov. 2009.
• H-Y. Go, N. Wakiya, T. Kiguchi, O. Sakurai, J. S. Cross, K. Shinozaki. Ferroelectric Properties of Orientation Controlled Epitaxial Pb(Zr,Ti)O₃ Thin Films on Si and YSZ Substrate, IMF-ISAF 2009, IMF-ISAF 2009, No. GO-018, Aug. 2009.
• K. Shinozaki, H-Y. Go, T. Kiguchi, O. Sakurai, J. S. Cross, N. Wakiya. Ferroelectric Properties of Orientation Controlled Epitaxial BiFeO₃ Thin Films on Si and YSZ Substrate, IMF-ISAF 2009, IMF-ISAF 2009, No. GO-007, Aug. 2009.
• TAKANORI KIGUCHI, Naoki Wakiya, Kazuo Shinozaki, Toyohiko J. Konno. Resolution-Improved EELS Analysis for Electronic Structure of Ferroelectric and Dielectric Oxides without Monochromater, The IUMRS International Conference in Asia 2008, The IUMRS International Conference in Asia 2008, # IO-11, p. 76, Dec. 2008.
• Kazuo Shinozaki, Shogo Hayashi, Tomohiko Yoshioka, Junzo Tanaka, Takanori Kiguchi, Naoki Wakiya. Novel Processing and Optical Properties of Pb(Mg_1/3Nb_2/3)O₃-PbTiO₃ Thin Films Deposited on Si Substrates by PLD Method, The IUMRS International Conference in Asia 2008, The IUMRS International Conference in Asia 2008, # II-6, p. 76, Dec. 2008.
• Naoki Wakiya, Takeshi Kitayama, Naonori Sakamoto, Hisao Suzuki, Teiko Kadowaki, keisuke fujito, Hidemitsu Takaoka, Akira Osada, TAKANORI KIGUCHI, Kazuo Shinozaki. Control of poly-type and mechanical properties of Al₂O₃ film prepared by pulsed laser deposition and rf magnetron sputtering, The IUMRS International Conference in Asia 2008, The IUMRS International Conference in Asia 2008, # IO-6, p. 73, Dec. 2008.
• JI-WON MOON, TAKANORI KIGUCHI, Tomohiko Yoshioka, Junzo Tanaka, KAZUO SHINOZAKI, naoki wakiya. Effect of the Stainless Steel Mesh in RF Plasma on Low-temperature Crystallization of Pb(Zr, Ti)O3 Films using SrTiO3 Seed Layer Prepared by Plasma Enhanced Metalorganic Chemical Vapor Deposition, The 24th International Japan-Korea Seminar on Ceramics, The 24th International Japan-Korea Seminar on Ceramics, Nov. 2007.
• Naoki Wakiya, Tomohiro Tabara, Naonori Sakamoto, Tomoya Ohno, Takanori Kiguchi, Nobuyasu Mizutani, Kazuo Shinozaki, Hisao Suzuki. Multiferroic property of layered PZT and ferromagnetic film, 13th US-Japan Seninar on Dielectrics and Piezoelectric Ceramics, Extended Abstracts of 13th US-Japan Seninar on Dielectrics and Piezoelectric Ceramics, p. 208-211, Nov. 2007.
• Hyunyoung Go, Tomohiko Yoshioka, Junzo Tanaka, KAZUO SHINOZAKI, TAKANORI KIGUCHI, naoki wakiya. Crystal Orientation Control of Epitaxial SrRuO3 Thin Film Deposited on CeO2/YSZ/Si Substrate by Introducing Atomic Layer Buffer, The 24th International Japan-Korea Seminar on Ceramics, A24, Nov. 2007.
• KAZUO SHINOZAKI, Masahiro Machi, TAKANORI KIGUCHI, Tomohiko Yoshioka, Junzo Tanaka, Hisao Suzuki, naoki wakiya. Formation of Magnetic Thin Film on Si-MOSFET Gate and its Electrical Properties, The 24th International Japan-Korea Seminar on Ceramics, Nov. 2007.
• Mariko Tamura, naoki wakiya, TAKANORI KIGUCHI, osamu sakurai, Tomohiko Yoshioka, Junzo Tanaka, KAZUO SHINOZAKI. Formation of nickel zinc ferrite through diffusion in NiFe2O4/ZnFe2O4 layered thin films and their ferromagnetic properties, 23rd Ceramic Research Conference of Kanto Branch in the Ceramic Society of Japan and 2007 International Symposium on Crystal Science and Technology, Abstract of 23rd Ceramic Research Conference of Kanto Branch, 1A12, Aug. 2007.
• Yuusuke Inaba, naoki wakiya, osamu sakurai, TAKANORI KIGUCHI, Tomohiko Yoshioka, Junzo Tanaka, KAZUO SHINOZAKI. Preparation of ZnFe2O4 thin films by PLD method and their NO2 gas sensitivity, 23rd Ceramic Research Conference of Kanto Branch in the Ceramic Society of Japan and 2007 International Symposium on Crystal Science and Technology, Abstract of 23rd Ceramic Research Conference of Kanto Branch, 1A09, Aug. 2007.
• Kazuo Shinozaki, Takanori Kiguchi, Naoki Wakiya, Kazuaki Kurihara. Epitaxial Growth of Oxide Thin Films on Si Substrate by Introducing Buffer Layers and Their Applications, 2007 International Symposium on Organic and Inorganic Electronic Materials and Related Nanotechnologies (EM-Nano2007), Abstract booklet of the 2007 International symposium on Organic and Inorganic Electronic Materials and Related nanotechnologies (EM-Nano2007), Vol. 1B-061, pp. 22, June 2007.
• Takanori Kiguchi, Naoki Wakiya, Junzo Tanaka, Kazuo Shinozaki. Size effect of ultra-thin zirconia gate dielectrics, STAC-JTMC-2007, No. 24pP09, pp. 136, May 2007.
• Ji-Won Moon, Shogo Tazawa, Naoki Wakiya, Keisuke Fujito, Naohiko Iimori, Takanori Kiguchi, Tomohiko Yoshioka, Junzo Takanka, Kazuo Shinozaki. Effect of SrTiO3 seed layer thickness on low-temperature crystallization and electrical properties of Pb(Zr, Ti)O3 films by metalorganic chemical vapor deposition (MOCVD), STAC-JTMC-2007, No. 24pP06, pp. 133, May 2007.
• Tomoaki Yamada, Jan Petzelt, Alexander K Tagantsev, S. Denisov, D. Noujini, P. K. Petrov, A. Mackova, T. Kiguchi, K. Fujito, K. Shinozaki, N. Mizutani, V. O. Sherman, P. Muralt, N. Setter. Split of In-plane and Out-of-plane Ferroelectric Instabilities in Compressed (001)-epitaxial SrTiO3 film, MRS Fall Meeting, No. T8.7, Nov. 2006.
• Ji-Won Moon, Naoki Wakiya, Takanori Kiguchi, Kazuo Shinozaki. Effect of Source Supply Methods on Low-Temperature Preparation of Lead Zirconate Titanate Thin Films Using SrTiO3 Seed Layers by Metallorganic Chemical Vapor Deposition, IUMRS-ICA-2006, Abstract Book of IUMRS-ICA-2006, No. 3-O-018, pp. 33, Sept. 2006.
• Naoki Wakiya, Toyokazu Nagamune, Takanori Kiguchi, Kazuo Shinozaki, Nobuyasu Mizutani. In-Situ Magnetic Field Induced Structure and Properites of Epitaxial Spinel Ferrite Thin Films Prepared by Pulsed Laser Depositio(PLD) (Dynamic Aurora PLD Method), Abstract of 2004 Materials Research Society Fall Meeting, Vol. 14.34, pp. 259, Dec. 2004.
• Takanori Kiguchi, Naoki Wakiya, Kazuo Shinozaki, Nobuyasu Mizutani. Effects of Dopant and Nano-structure on Interface of Zirconia/Silicon Heterostructure, International Conference on Materials for Advanced Technologies & IUMRS-International Conference in Asia 2003, Abstracts of International Conference on Materials for Advanced Technologies & IUMRS-International Conference in Asia 2003, Abstracts of International Conference on Materials for Advanced Technologies & IUMRS-International Conference in Asia 2003, Vol. E-17-39-P, pp. 185, Dec. 2003.
• Takanori KIGUCHI, Naoki WAKIYA, Kazuo SHINOZAKI, Nobuyasu MIZUTANI. In-situ TEM Analysis of Crystallization Process of Zirconia/Silicon heterostructure, Abstract book of The 5th International Meeting of Pacific Rim Ceramic Societies, Abstract book of The 5th International Meeting of Pacific Rim Ceramic Societies, No. 21-O-05, pp. 290, Sept. 2003.
• Takanori KIGUCHI, Naoki WAKIYA, Kazuo SHINOZAKI, Nobuyasu MIZUTANI. HRTEM Investigation of Interface Structure of Y and Ta Co-doped Zirconia/Silicon Heterostructure, Abstract of The 5th International Meeting of Pacific Rim Ceramic Societies, Abstract of The 5th International Meeting of Pacific Rim Ceramic Societies, No. 15-O-03, pp. 229, Sept. 2003.
• Takanori KIGUCHI, Naoki WAKIYA, Kazuo SHINOZAKI, Nobuyasu MIZUTANI. In-situ TEM investigation of structural change of zirconia/silicon heterostructure, Abstract Book of International Conference on Electroceramics, Abstract Book of International Conference on Electroceramics, No. OS1-SYN-6-O, pp. 65, Aug. 2003.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. SiOx層上へのYSZ薄膜のエピタキシャル成長, 2003日本セラミックス協会年会 第28回セラミックスに関する顕微鏡写真展, 2003日本セラミックス協会年会予稿集, 2003日本セラミックス協会年会予稿集　第28回セラミックスに関する顕微鏡写真展　, pp. 321, Mar. 2003.
• Takanori KIGUCHI, Naoki WAKIYA, Kazuo SHINOZAKI, Nobuyasu MIZUTANI. HRTEM INVESTIGATION OF 90°DOMAIN CONFIGURATION AND P-E HYSTERESIS LOOP OF EPITAXIAL PZT MULTILAYERED THIN FILMS, Abstracts of Materials Research Society 2002 Fall Meeting, Abstracts of Materials Research Society 2002 Fall Meeting, No. *U5.1, pp. 450, Dec. 2002.
• Takanori KIGUCHI, Naoki WAKIYA, Kazuo SHINOZAKI, Nobuyasu MIZUTANI. HRTEM INVESTIGATION OF EFFECT OF VARIOUS RARE EARTH OXIDE DOPANTS ON EPITAXIAL ZIRCONIA HIGH-K GATE DIELECTRICS, Abstracts of Materials Research Society 2002 Fall Meeting, Abstracts of Materials Research Society 2002 Fall Meeting, No. N9.7/T7.7, pp. 352, Dec. 2002.
• Takanori KIGUCHI, Naoki WAKIYA, Kazuo SHINOZAKI, Nobuyasu MIZUTANI. HRTEM INVESTIGATION OF 90°DOMAIN STRUCTURE AND FERROELECTRIC PROPERTIES OF EPITAXIAL MULTI-LAYERED PZT THIN FILMS, IUMRS-ICEM 2002, Abstracts of IUMRS-ICEM 2002, Abstracts of IUMRS-ICEM 2002, No. P-050, pp. 659, June 2002.
• Takanori Kiguchi, Naoki Wakiya, Kazuo Shinozaki, Nobuyasu Mizutani. Role of ultra thin SiOx layer on epitaxial YSZ/SiOx/Si thin film as multi functional buffer layer by nano-probe and in-situ TEM investigation, Extended Abstruct of Internatioal Joint Conference on the Application of Ferroelectrics 2002, Extended Abstruct of Internatioal Joint Conference on the Application of Ferroelectrics 2002, No. 31G-TE2-10P, pp. 348, May 2002.
• Takanori KIGUCHI, Naoki WAKIYA, Kazuo SHINOZAKI, Nobuyasu MIZUTANI. HRTEM analysis of PZT thin film structure, Extended Abstracts of FeRAM 2001 FED, No. P29, pp. 134-135, Oct. 2001.
• Takanori KIGUCHI, Naoki WAKIYA, Kazuo SHINOZAKI, Nobuyasu MIZUTANI. Structure Analysis of CeO2/ZrO2/Si Multilayer Thin Films by HRTEM, Materials Research Society 1999 Fall Meeting, Materials Research Society, Materials Research Society 1999 Fall Meeting, No. T3.24, pp. 322, Dec. 1999.
• Nobuyasu Mizutani, Kazuo Shinozaki, Naoki Wakiya, Takanori Kiguchi, Y.Xuan, Tomoaki Yamada, Makoto Yoshida, C.H.Chen. Preparation and properties of ferroelectric thin films and epitaxial ceramic buffer layer for memory device, The first international symposium on electronic materials and semiconductor device, Extended abstract of the first international symposium on electronic materials and semiconductor device, The first international symposium on electronic materials and semiconductor device, pp. 00, 1999.
• Hiroshi UCHIDA, Takanori KIGUCHI, Atsushi SAIKI, Kazuo SHINOZAKI, Nobuyasu MIZUTANI. Analysis of residual stresses in epitaxial lead titanate films using asymmetric X-ray diffraction method, The 3rd. International Meeting of Pacific Rim Ceramic Societies, The 3rd. International Meeting of Pacific Rim Ceramic Societies, No. 10-O-6, pp. 190, Sept. 1998.
• Song-Yong CHUN, Takanori Kiguchi, Osamu Sakurai, Kazuo Shinozaki, Nobuyasu Mizutani. Effect of Columnar Structure of Y2O3 Doped ZrO2 Thin Films on Electrical Conductivity, The 3rd. International Meeting of Pacific Rim Ceramic Societies, No. 12-P-48, pp. 232, Sept. 1998.
• Takanori Kiguchi, Hiroshi Funakubo, Kazuo Shinozaki, Nobuyasu Mizutani. Effect of Sample Shape on Electrnical Conductivity of Y2O3 Doped ZrO2 Thin Films and Bulk Crystals, The 3rd. International Meeting of Pacific Rim Ceramic Societies, No. 12-P-46, pp. 232, Sept. 1998.
• Takanori KIGUCHI, Hiroshi FUNAKUBO, Naoki WAKIYA, Kazuo SHINOZAKI, Nobuyasu MIZUTANI. EFFECT OF EXCIMER LASER IRRADIATION ON THE PREPARATION OF Pb(Zr,Ti)O3 FILM BY CVD, Abstract of Photoreaction Control and Photofunctional Materials '98, Abstract of Photoreaction Control and Photofunctional Materials '98, No. P3-23, pp. 223-224, Mar. 1998.
• Naoki WAKIYA, JI-Won MOON, Takanori KIGUCHI, Osamu SAKURAI, Kazuo SHINOZAKI, Nobuyasu MIZUTANI. Effect of Thickness on the Dielectric Properties of Pb(Mg1/3Nb2/3)O3 (PMN) Thin Film Prepared by Sol-Gel Method, ISAF XI'98, Abstract of ISAF XI'98, Vol. B-A3-P19-88, pp. 233, 1998.
• Takanori KIGUCHI, Atsushi SAIKI, Kazuo SHINOZAKI, Nobuyasu MIZUTANI. EFFECT OF DOMAIN AND COLONY STRUCTURE ON FERROELASTIC DOMAIN SWITCHING OF RARE EARTH ION DOPED ZIRCONIA SINGLE CRYSTALS, Abstract of IUMRS-ICA1997, Abstract of IUMRS-ICA1997, No. S5.5, Sept. 1997.
• Atsushi Saiki, Takanori Kiguchi, Kazuo Shinozaki, Nobuyasu Mizutani. Texture analysis of domain switching phenomena in Y2O3 doped ZrO2 Crystals, Proceeding of the 2nd. International Meeting of Pacific Rim Ceramic Societies, Vol. 3, pp. 57-66, July 1996.
• Atsushi Saiki, Takanori Kiguchi, Kazuo Shinozaki, Nobuyasu Mizutani. Texture analysis of domain switching phenomena in Y2O3 doped ZrO2 Crystals, Proceeding of the 2nd. International Meeting of Pacific Rim Ceramic Societies, Proceeding of the 2nd. International Meeting of Pacific Rim Ceramic Societies, No. A22, pp. 304, July 1996.

国内会議発表 (査読なし・不明)

• 大井智雄, 野口慶人, 茂木翔太, 金 鎭雄, 島 宏美, 西田 謙, 木口賢紀, 赤間章裕, 今野豊彦, 舟窪 浩, 内田 寛. 金属酸化物ナノシート界面層を利用したチタン酸バリウム薄膜の結晶配向性制御, 第33回強誘電体応用会議（FMA 33）, May 2016.
• 植竹 敦, 木口賢紀, Cross J. Scott, 脇谷尚樹, 櫻井 修, 篠崎和夫. 複数の陽イオンを添加した酸化セリウム固溶体の作製および電気特性, 第29回エレクトロセラミックス研究討論会, 第29回エレクトロセラミックス研究討論会, No. 1B07, Oct. 2009.
• 木口賢紀, 青柳健大, 今野豊彦, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 宇津木悟, 山田智明, 舟窪浩. 酸化物薄膜におけるナノ歪み場の幾何学的位相解析, 第22回日本セラミックス協会 秋季シンポジウム, 第22回日本セラミックス協会 秋季シンポジウム講演予稿集, No. 2E01, pp. 121, Sept. 2009.
• 村上晃浩, 高 鉉龍, 脇谷尚樹, 木口賢紀, Cross Jeffrey, 櫻井 修, 篠崎和夫. PLD 法で製膜した蛍石型酸化物の残留応力の測定と制御, 第22回日本セラミックス協会 秋季シンポジウム, 第22回日本セラミックス協会 秋季シンポジウム講演予稿集, No. 1PE03, pp. 136, Sept. 2009.
• A. Murakami, H.-Y. Go, N. Wakiya, T. Kiguchi, Jeffrey Cross, O. Sakurai, K. Shinozaki. Evaluation and Control of Residual Stress in Epitaxial Fluorite-Type-Oxide Thin Films Deposited on Si Substrates by PLD, The 3rd International Conference on Science and Technology for Advanced Ceramics (STAC3)., The 3rd International Conference on Science and Technology for Advanced Ceramics (STAC3)., No. 16pP045, June 2009.
• R. Saotome, H.-Y. Go, T. Kiguchi, N. Wakiya, J. S. Cross, O. Sakurai, K. Shinozaki. Preparation and Characterization of Gd₂O₃ Doped CeO₂ Films by Chemical Vapor Deposition, The 3rd International Conference on Science and Technology for Advanced Ceramics (STAC3)., The 3rd International Conference on Science and Technology for Advanced Ceramics (STAC3)., No. 16pP044, June 2009.
• T. Kiguchi, T. J. Konno, N. Wakiya, K. Shinozaki. HRTEM Analysis of Interface Structure in ZrO₂ Ultra-Thin Film, The 3rd International Conference on Science and Technology for Advanced Ceramics (STAC3)., The 3rd International Conference on Science and Technology for Advanced Ceramics (STAC3)., No. 16pP033, June 2009.
• 木口賢紀, 今野豊彦, 脇谷尚樹, 篠崎和夫. 収差補正電子顕微鏡によるZrO₂超薄膜の界面構造解析, 日本セラミックス協会 2009年年会, 日本セラミックス協会 2009年年会講演予稿集, No. 1L33, pp. 76, Mar. 2009.
• 高 鉉龍, 脇谷尚樹, 木口賢紀, Jeffrey S. Cross, 桜井 修, 吉岡朋彦, 田中順三, 篠崎和夫. Si基板上への(001), (101)および(111)配向BiFeO₃エピタキシャル薄膜の製膜とその電気的性質, 第56 回春季応用物理学会関係連合講演会, 第56 回春季応用物理学会関係連合講演会, No. 30a-ZH-9, Mar. 2009.
• 高鉉龍, 脇谷尚樹, 木口賢紀, Jeffrey S. Cross, 櫻井修, 吉岡朋彦, 田中順三, 篠崎和夫. SiおよびYSZ基板上の(001), (101)および(111)配向Pb(Zr,Ti)O₃エピタキシャル薄膜の電気特性, 日本セラミックス協会 2009年年会, 日本セラミックス協会 2009年年会講演予稿集, No. 2A03, pp. 79, Mar. 2009.
• 植竹敦, 吉岡朋彦, 櫻井修, 木口賢紀, 田中順三, 篠崎和夫. Sm₂O₃, Gd₂O₃を添付したCeO₂固溶体の作製と電気的性質, 第24回日本セラミックス協会関東支部研究発表会, 第24回日本セラミックス協会関東支部研究発表会, No. 1C21, July 2008.
• Takanori Kiguchi, Naoki Wakiya, Kazuo Shinozaki, Toyohiko J Konno. Valence-EELS Analysis of Local Optical Properties of Oxides, The 2nd International Conference on Science and Technology for Advanced Ceramics (STAC2), The 2nd International Conference on Science and Technology for Advanced Ceramics (STAC2), No. PC19, May 2008.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. TEM-EELS法による酸化物強誘電体薄膜の局所光学特性評価, 日本顕微鏡学会・第32回関東支部講演会, 日本顕微鏡学会・第32回関東支部講演会, No. P-18, pp. 107, Mar. 2008.
• 高 鉉龍, 脇谷尚樹, 木口賢紀, 櫻井修, 吉岡朋彦, 田中順三, 篠崎和夫. CeO₂/YSZ バッファ層を形成したSi 基板上へのPb(Zr_0.52Ti_0.48)O₃/SrRuO₃ 薄膜の配向制御, 第55 回春季応用物理学会関係連合講演会, 第55回春季応用物理学会関係連合講演会, No. 29p-P12-8, Mar. 2008.
• 石倉裕司, 木口賢紀, 脇谷尚樹, 吉岡朋彦, 田中順三, 篠崎和夫. エピタキシャルYSZ薄膜を用いた酸素センサの試作, 第27回エレクトロセラミックス研究討論会, 第27回エレクトロセラミックス研究討論会, no. 1B13, p. 27, Oct. 2007.
• 諸橋倫大郎, 脇谷尚樹, 木口賢紀, 吉岡朋彦, 田中順三, 篠崎和夫. MOCVD 法によるエピタキシャル酸化物薄膜の合成と成長機構, 第27回エレクトロセラミックス研究討論会, 第27回エレクトロセラミックス研究討論会, no. 1B11, p. 25, Oct. 2007.
• 長田 実, 赤塚 公章, 海老名保男, 舟窪浩, 木口賢紀, 高田和典, 佐々木高義. 酸化チタンナノシートを基本ブロックとした誘電体ナノ薄膜の作製, 強誘電体応用会議FMA-24, 応用物理学会, Vol. 0, No. 0, May 2007.
• 木口賢紀, 林聖悟, 脇谷尚樹, 田中順三, 篠崎和夫. TEM-EELS法によるPMN-PT薄膜の光学特性評価, 日本セラミックス協会2007年年会, 日本セラミックス協会2007年年会講演予稿集, No. 1A31, pp. 7, Mar. 2007.
• 諸橋倫大郎, 脇谷尚樹, 木口賢紀, 田中順三, 篠崎和夫. MOCVD法によるAl2O3基板上へのエピタキシャルLiNbO3薄膜の作製, 日本セラミックス協会2007年年会, 日本セラミックス協会2007年年会講演予稿集, No. 1A27, pp. 5, Mar. 2007.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 田中順三, 篠崎和夫. 超薄膜化によるZrO2の結晶相制御, 日本顕微鏡学会第31回関東支部講演会, 日本顕微鏡学会第31回関東支部講演会予稿集, Vol. P-20, pp. 123, Mar. 2007.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 田中順三, 篠崎和夫. 超薄膜化によるジルコニアの正方ー単斜相転移の凍結, 日本セラミックス協会2007年年会第32回セラミックスに関する顕微鏡写真展, 日本セラミックス協会2007演予稿集, pp. 305, Mar. 2007.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 田中順三, 篠崎和夫. 超薄膜化によるZrO₂の結晶相制御, 日本顕微鏡学会第31回関東支部講演会予稿集, 日本顕微鏡学会第31回関東支部講演会予稿集, No. P-20, pp. 123, Mar. 2007.
• 町雅博, 田中順三, 篠崎和夫, 脇谷尚樹, 木口賢紀. Si電界効果トランジスタのゲート上への磁性薄膜の形成と電気特性, 日本セラミックス協会2007年年会, 日本セラミックス協会2007年年会講演予稿集, No. 3B11, pp. 222, Mar. 2007.
• 文志原, 田中順三, 篠崎和夫, 脇谷尚樹, 木口賢紀. SrTiO3シード層上へのPZT薄膜の低温結晶化に及ぼすプラズマの影響, 日本セラミックス協会2007年年会, 日本セラミックス協会2007年年会講演予稿集, No. 2B09, pp. 88, Mar. 2007.
• 脇谷 尚樹, 門脇 貞子, 藤戸 啓輔, 木口 賢紀, 高岡 秀充, 長田晃, 鈴木 久男, 篠崎和夫, Kazuo Shinozaki. ダイナミックオーロラPLD法によるアルミナ薄膜の結晶構造制御, 日本セラミックス協会2007年年会, 日本セラミックス協会2007年年会講演予稿集, No. 3H05, pp. 276, Mar. 2007.
• 脇谷尚樹, 長宗豊和, 文志原, 木口賢紀, 水谷惟恭, 鈴木久男, 篠崎和夫. PLD法によるPb(Zr,Ti)O3薄膜作製におけるSrTiO3シード層と磁場印加効果, 第17回日本MRS学術シンポジウム, 第17回日本MRS学術シンポジウム講演予稿集, No. A-14-I Invited, Dec. 2006.
• 脇谷尚樹, 長宗豊和, 文 志原, 木口賢紀, 水谷惟恭, 鈴木久男, 篠崎和夫. PLD 法によるPb(Zr,Ti)O₃薄膜作製におけるSrTiO₃シード層と磁場印加効果, 第17 回日本MRS 学術シンポジウム, 第17 回日本MRS 学術シンポジウム, No. A-14-I, Dec. 2006.
• 石倉裕司, 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫. Si基板上に形成したYSZ薄膜を用いた低温駆動酸素センサーの試作, 第22回日本セラミックス協会関東支部研究発表会, 第２2回日本セラミックス協会関東支部研究発表会予稿集, No. 1A26, pp. 26, July 2006.
• 林聖悟, 木口賢紀, 脇谷尚樹, 水谷惟恭, 篠崎和夫, 佐藤桂輔, 近藤正雄, 栗原和明. バッファー層形成条件の最適化によるSi基板上へのPLD法によるエピタキシャルPMN-PT薄膜の作製, 日本セラミックス協会2006年年会, 日本セラミックス協会2006年年会講演予稿集, No. 2A05, pp. 83, Mar. 2006.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 水谷惟恭, 篠崎和夫. 非シリケート型非晶質ゲート絶縁膜の高温安定性, 日本セラミックス協会2006年年会, 日本セラミックス協会2006年年会講演予稿集, No. 2A02, pp. 81, Mar. 2006.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. 単斜晶ジルコニア薄膜のマルチドメイン構造, 日本セラミックス協会2006年年会第31回セラミックスに関する顕微鏡写真展, 日本セラミックス協会2006年年会講演予稿集, pp. 337, Mar. 2006.
• 脇谷尚樹, 門脇貞子, 長宗豊和, 木口賢紀, 水谷惟恭, 篠崎和夫. ダイナミックオーロラPLD装置の開発とYSZ薄膜の作製, 日本セラミックス協会2006年年会, 日本セラミックス協会2006年年会予稿集, No. 2A01, pp. 81, Mar. 2006.
• 藤戸啓輔, 脇谷尚樹, 木口賢紀, 水谷惟恭, 篠崎和夫. Buffer/Si基板上のPZT薄膜の配向性が残留応力と誘電特性に及ぼす影響, 日本セラミックス協会　第25 回エレクトロセラミックス研究討論会, 日本セラミックス協会　第25 回エレクトロセラミックス研究討論会 講演予稿集, No. 2B01, pp. 37, Oct. 2005.
• 尾上 通, 脇谷尚樹, 瀬尾公一, 木口賢紀, 水谷惟恭, 篠崎和夫. 電気特性測定機構を組み込んだ高温X 線回折装置によるPb(Zr,Ti)O3薄膜の相転移と電気的特性 のその場観察, 日本セラミックス協会　第25 回エレクトロセラミックス研究討論会, 日本セラミックス協会　第25 回エレクトロセラミックス研究討論会 講演予稿集, No. 1B03, pp. 17, Oct. 2005.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 水谷惟恭, 篠崎和夫. ジルコニア系非晶質ゲート絶縁膜の構造と界面電気特性, 日本セラミックス協会第18回秋季シンポジウム, 日本セラミックス協会第18回秋季シンポジウム講演予稿集, No. 1H08, pp. 219, Sept. 2005.
• 脇谷尚樹, 田尻直也, Jeffery S. Cross, 木口賢紀, 水谷惟恭, 篠崎和夫. Al電極を用いた，室温におけるAl/YSZ薄膜界面における酸素拡散, 日本セラミックス協会第18回秋季シンポジウム, 日本セラミックス協会第18回秋季シンポジウム講演予稿集, No. 2H01, pp. 225, Sept. 2005.
• 脇谷尚樹, 長宗豊和, 木口賢紀, 篠崎和夫, 水谷惟恭. ダイナミックオーロラPLD法による磁場励起変調構造NiO薄膜の試作, 日本セラミックス協会2005年年会講演予稿集, 日本セラミックス協会2005年年会講演予稿集, No. 2A10, pp. 71, Mar. 2005.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. YSZ薄膜結晶化過程の高温その場断面TEM観察, 日本セラミックス協会2005年年会講演予稿集　第３０回セラミックスに関する顕微鏡写真展, 日本セラミックス協会2005年年会講演予稿集, 日本セラミックス協会2005年年会講演予稿集　第３０回セラミックスに関する顕微鏡写真展, pp. 299, Mar. 2005.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. Y2O3-Ta2O5混合ドープZrO2ゲート絶縁膜の界面反応, 日本セラミックス協会2005年年会講演予稿集　第３０回セラミックスに関する顕微鏡写真展, 日本セラミックス協会2005年年会講演予稿集, pp. 299, Mar. 2005.
• 田尻直也, 脇谷尚樹, 木口賢紀, 篠崎和夫, 水谷惟恭, Jeffery S. Cross. ゲート絶縁用YSZ薄膜における酸素欠陥の電界誘起拡散現象, 日本セラミックス協会2005年年会講演予稿集, 日本セラミックス協会2005年年会講演予稿集, No. 1A26, pp. 4, Mar. 2005.
• 木口賢紀. 電子顕微鏡によるジルコニア／シリコン積層構造におけるSi酸化膜の機能と成長に関する研究, 日本セラミックス協会2005年年会講演予稿集, 日本セラミックス協会2005年年会講演予稿集, Vol. 招待講演, No. 1A24, pp. 4, Mar. 2005.
• 山本健樹, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭, 木口賢紀. MOCVD法によるLiTaO3薄膜の合成と評価, 第４３回セラミックス基礎科学討論会講演要旨集, 第４３回セラミックス基礎科学討論会講演要旨集, No. 1D-14, pp. 166, Jan. 2005.
• 木口賢紀, 水谷惟恭. 総合分析支援センター, ナノワールド展, pp. 12/14-12/18, Dec. 2004.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. 単斜晶ZrO2バッファ層のドメイン構造と電気特性, 日本セラミックス協会　第２４回電子材料研究討論会講演予稿集, 日本セラミックス協会　第２４回電子材料研究討論会講演予稿集, No. 1A-01, pp. 6, Oct. 2004.
• 根本成, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭, 木口賢紀, 佐藤桂輔, 石井雅俊, 近藤正雄, 栗原和明. PLD法とバッファー層を利用したSi基板上でのエピタキシャルPMN-PT薄膜の作製と光学特性, 日本セラミックス協会　第２４回電子材料研究討論会講演予稿集, 日本セラミックス協会　第２４回電子材料研究討論会講演予稿集, No. 1A-03, pp. 8, Oct. 2004.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. 高温その場TEM観察によるYSZ/Si薄膜結晶化のダイナミクス, 日本セラミックス協会第17回秋季シンポジウム講演予稿集, 日本セラミックス協会第17回秋季シンポジウム講演予稿集, Vol. 招待講演, No. 3D01, pp. 39, Sept. 2004.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. エピタキシャル成長した単斜晶ZrO2/Si薄膜の双晶構造, 日本セラミックス協会第17回秋季シンポジウム講演予稿集, 日本セラミックス協会第17回秋季シンポジウム講演予稿集, No. 1H06, pp. 297, Sept. 2004.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. YSZ/SiOx/Si薄膜のエピタキシャル成長におけるSi酸化膜の重要性, 第２０回日本セラミックス協会関東支部研究発表会, 第２０回日本セラミックス協会関東支部研究発表会, No. 2A04, pp. 67-68, July 2004.
• 尾上通, 木口賢紀, 佐伯淳, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭, 瀬尾公一. X線回折逆格子空間マッピング法によるY2O3-ZrO2薄膜の結晶構造解析, 第２０回日本セラミックス協会関東支部研究発表会予稿集, 第２０回日本セラミックス協会関東支部研究発表会予稿集, No. 1A15, pp. 15, July 2004.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. ジルコニア薄膜の結晶化過程のその場観察, 日本セラミックス協会2004年年会, 日本セラミックス協会2004年年会予稿集, 日本セラミックス協会2004年年会予稿集, pp. 322, Mar. 2004.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. PZT積層薄膜の９０°ドメイン断面構造, 日本セラミックス協会2004年年会, 日本セラミックス協会2004年年会予稿集, pp. 322, Mar. 2004.
• 水谷惟恭, 篠崎和夫, 脇谷尚樹, 木口賢紀. MFIS構造体での絶縁層の機能と向上, 大学連携型産業科学技術研究開発プロジェクト「次世代強誘電体メモリの研究開発」最終成果報告会, Vol. 0, No. 0, pp. 0, Mar. 2004.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. ４価の酸化物をドープしたジルコニア/シリコン薄膜の界面構造評価, 日本セラミックス協会2004年年会, 日本セラミックス協会2004年年会予稿集, 日本セラミックス協会2004年年会予稿集, No. 2A15, pp. 140, Mar. 2004.
• Takanori Kiguchi, Naoki Wakiya, Kazuo Shinozaki, Nobuyasu Mizutani. In-situ TEM Investigation of Structural Evolution of Zirconia High-k Gate Dielectrics at Elevated Temperature, International Conference on Materials for Advanced Technologies & IUMRS-International Conference in Asia 2003, Abstracts of International Conference on Materials for Advanced Technologies & IUMRS-International Conference in Asia 2003, Abstracts of International Conference on Materials for Advanced Technologies & IUMRS-International Conference in Asia 2003, Vol. N3-3-3, pp. 732, Dec. 2003.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. 分析電子顕微鏡による Y2O3-Ta2O5混合ドープしたジルコニアバッファ層の界面構造評価, 第23回電子材料研究討論会, 第23回電子材料研究討論会予稿集, 第23回電子材料研究討論会予稿集, No. 1B10, pp. 28, Oct. 2003.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. 熱処理によるYSZ/Si薄膜構造変化のその場TEM観察, 第19回日本セラミックス協会関東支部研究発表会, 第19回日本セラミックス協会関東支部研究発表会予稿集, 第19回日本セラミックス協会関東支部研究発表会予稿集, No. 2A04, pp. 83-84, July 2003.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. ジルコニアゲート絶縁膜の構造劣化過程のその場観察, 日本顕微鏡学会第５９回年会予稿集, Vol. 38, No. Supplement1, pp. 22, June 2003.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. ジルコニア薄膜の柱状粒界形成過程のその場観察, 2003日本セラミックス協会年会　第28回セラミックスに関する顕微鏡写真展　学術写真賞, 2003日本セラミックス協会年会予稿集, 2003日本セラミックス協会年会予稿集　第28回セラミックスに関する顕微鏡写真展　学術写真賞　優秀賞, pp. 321, Mar. 2003.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. 非晶質Y2O3添加ZrO2薄膜のドロップレット断面構造, 2003日本セラミックス協会年会 第28回セラミックスに関する顕微鏡写真展, 2003日本セラミックス協会年会予稿集, 2003日本セラミックス協会年会予稿集　第28回セラミックスに関する顕微鏡写真展, pp. 320, Mar. 2003.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. Taドーピングによる希土類安定化ZrO2ゲート絶縁膜のSiO2層成長の抑制, 2003年日本セラミックス協会年会, 2003年日本セラミックス協会年会予稿集, 2003年日本セラミックス協会年会予稿集, No. 2k10, pp. 284, Mar. 2003.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. 希土類酸化物安定化ジルコニアエピタキシャルゲート絶縁膜のC-V特性向上と界面反応抑制, 第22回電子材料研究討論会, 第22回電子材料研究討論会予稿集, 第２２回電子材料研究討論会予稿集, No. 1B02, pp. 23, Oct. 2002.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. 種々の希土類元素を添加したジルコニアゲート絶縁膜の界面構造の高分解能ＴＥＭ観察, 日本セラミックス協会第15回秋季シンポジウム予稿集, No. 3L19, pp. 266, Sept. 2002.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. PZT/LSCO/CeO2/YSZ/SiOx/Si積層薄膜の90°ドメイン構造のHRTEM観察, 日本電子顕微鏡学会第５８回年会予稿集, Vol. 37, No. Supplement 1, pp. 266, June 2002.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. 断層／隆起, 日本電子顕微鏡学会第５８回年会予稿集 写真コンクール, 日本電子顕微鏡学会第５８回年会予稿集 写真コンクール, Vol. 37, No. Supplement 1, pp. 272, May 2002.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. たけのこづくし, 日本電子顕微鏡学会第５８回年会予稿集　写真コンクール, 日本電子顕微鏡学会第５８回年会予稿集　写真コンクール, Vol. 37, No. Supplement 1, pp. 271, May 2002.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. エピタキシャルPZT/LSCO/CeO2/YSZ/Si積層薄膜のZr/Ti比による 90°ドメイン構造変化のTEM観察, 日本セラミックス協会2002年年会予稿集, No. 2A29, pp. 142, Mar. 2002.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. YSZ/SiOx/Si薄膜の結晶化過程の加熱in-situ TEM観察, 日本電子顕微鏡学会関東支部　第２６回講演会, 日本電子顕微鏡学会関東支部　第２６回講演会予稿集, 日本電子顕微鏡学会関東支部　第２６回講演会予稿集, No. P14, pp. 112, Mar. 2002.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. ジルコニア薄膜の結晶化過程の高分解能その場観察, 日本セラミックス協会2002年年会予稿集, pp. 313, Mar. 2002.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. in-situ TEMによるPZT薄膜のドメイン構造形成過程の解明, 第21回電子材料研究討論会予稿集, No. 2PB06, pp. 81, Oct. 2001.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. 加熱TEM観察によるPZT薄膜の結晶成長に及ぼすシード層の効果の解明, 日本セラミックス協会第14回秋季シンポジウム予稿集, No. 3D03, pp. 224, Sept. 2001.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. 加熱TEM観察によるYSZ/SiOx/Si薄膜におけるSiOx層の還元過程の解明, 日本セラミックス協会第14回秋季シンポジウム予稿集, No. 1D23, pp. 36, Sept. 2001.
• C.H.Chen, Naoki Wakiya, Takanori Kiguchi, Kazuo Shinozaki, Nobuyasu Mizutani. Mosaic defect identification in multi-heteroepitaxial films by high-resolution X-ray diffraction, 14th Fall Meeting of The Ceramic Society of Japan, 14th Fall Meeting of The Ceramic Society of Japan, No. 1F25, pp. 54, Sept. 2001.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. SiOx自然酸化膜によるYSZ/Si薄膜の結晶化促進現象のTEM観察, 日本セラミックス協会2001年年会予稿集, No. 2G13, pp. 258, Mar. 2001.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. 非晶質YSZ層によるYSZ/SiOx/Siエピタキシャル薄膜のC-V特性の向上の可能性, インテリジェント材料シンポジウム, No. B18, pp. 94-95, Feb. 2001.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. TEM，XRDによるPMN/LSCO/CeO2/YSZ/Si薄膜のインテグレート構造と誘電率の膜厚依存性, 日本セラミックス協会第13回秋季シンポジウム予稿集, No. 3A15, pp. 204, Oct. 2000.
• 内田寛, 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. MOCVDによるチタン酸鉛薄膜の成膜過程における残留応力発生の機構, 日本セラミックス協会2000年年会, 日本セラミックス協会2000年年会予稿集, 日本セラミックス協会2000年年会予稿集, No. 2D35, pp. 182, Mar. 2000.
• 永野大介, 杉浦充典, 木口賢紀, 脇谷尚樹, 舟窪浩, 篠崎和夫, 水谷惟恭. MOCVD合成した半導性NbドープBaTiO3薄膜のNb添加状態と導電機構, 日本セラミックス協会2000年年会, 日本セラミックス協会2000年年会予稿集, 日本セラミックス協会2000年年会予稿集, No. 2F09, pp. 205, Mar. 2000.
• 木口賢紀, 内田寛, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. HRTEM観察によるPbTiO3／SrTiO3薄膜の高整合性界面の構造, 2000年日本セラミックス協会年会予稿集, No. 1E02, pp. 46, Mar. 2000.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. YSZ/Si 薄膜界面へのSiOx層生成過程のTEMによるその場観察, 第20回電子材料研究討論会予稿集, No. 2PB23, pp. 127, 2000.
• 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. CeO2/ZrO2/Si多層膜界面構造のHRTEM観察, 日本セラミックス協会第12回秋季シンポジウム, 日本セラミックス協会第12回秋季シンポジウム予稿集, 日本セラミックス協会第12回秋季シンポジウム予稿集, No. 3D04, pp. 399, Oct. 1999.
• 峰村崇, 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭, 大木六郎. 環境制御型SEMを用いたチタン酸鉛薄膜の結晶化に伴う微構造変化のその場観察, 第15回日本セラミックス協会関東支部研究発表会, 第15回日本セラミックス協会関東支部研究発表会, 第15回日本セラミックス協会関東支部研究発表会, No. 1A-15, pp. 29, July 1999.
• 大木六郎, 木口賢紀. 良いSEM像を撮るために, 第15回年日本セラミックス協会関東支部研究発表会, 第15回年日本セラミックス協会関東支部研究発表会予稿集, 第15回年日本セラミックス協会関東支部研究発表会予稿集, No. 2A-01, pp. 95, July 1999.
• 木口賢紀, 篠崎和夫, 水谷惟恭. 断面ＴＥＭ観察によるイットリア添加ジルコニア薄膜の柱状粒界構造解析, 1999年日本セラミックス協会年会, 1999年日本セラミックス協会年会予稿集, 1999年日本セラミックス協会年会予稿集, No. 1B09, pp. 32, Mar. 1999.
• 内田　寛, 木口賢紀, 脇谷尚樹, 篠崎和夫, 水谷惟恭. エピタキシャル薄膜における残留応力評価のためのX線応力測定法の開発, 第１４回日本セラミックス協会関東支部研究発表会予稿集, 第１４回日本セラミックス協会関東支部研究発表会予稿集, No. 1A08, pp. 13-14, July 1998.
• 木口 賢紀, 奥田　律一, Chun Sung-Yong, 舟窪　浩, 篠崎和夫, 水谷惟恭. Y2O3添加ZrO2薄膜の柱状組織と電気伝導性との関係, 第１４回日本セラミックス協会関東支部研究発表会予稿集, 第１４回日本セラミックス協会関東支部研究発表会予稿集, No. 2A03, pp. 62-63, July 1998.
• 木口賢紀, 佐伯淳, 篠崎和夫, 水谷惟恭. 希土類酸化物部分安定化ジルコニア結晶のドメインスイッチング量に及ぼす分相組織の影響, 1998年日本セラミックス協会年会予稿集, 1998年日本セラミックス協会年会予稿集, No. 1B15, pp. 32, Apr. 1998.
• 木口賢紀, Song-Yong CHUN, 舟窪浩, 篠崎和夫, 水谷惟恭. イットリア添加ジルコニア薄膜の電気伝導性に及ぼす柱状組織の影響, 日本セラミックス協会第11回秋季シンポジウム予稿集, 日本セラミックス協会第11回秋季シンポジウム予稿集, No. 1A07, pp. 7, Mar. 1998.
• 木口賢紀, 佐伯淳, 篠崎和夫, 水谷惟恭. 種々の分相組織を持つジルコニア結晶の強弾性ドメインスイッチング, 1997年日本セラミックス協会年会予稿集, 1997年日本セラミックス協会年会予稿集, No. 2H25, pp. 390, Mar. 1997.
• 佐伯淳, 木口賢紀, 篠崎和夫, 水谷惟恭. 双晶組織等における空間的な配向度の決定, 日本セラミックス協会第９回秋季シンポジウム予稿集, 日本セラミックス協会第９回秋季シンポジウム予稿集, No. 3A06, pp. 318, Oct. 1996.
• 木口賢紀, 佐伯淳, 篠崎和夫, 水谷惟恭. セリア部分安定化ジルコニアの軸比と強弾性ドメインスイッチングの起こり易さの関係, 日本セラミックス協会第9回秋季シンポジウム予稿集, 日本セラミックス協会第9回秋季シンポジウム予稿集, No. 3C01, pp. 343, Oct. 1996.
• 木口賢紀, 佐伯淳, 篠崎和夫, 水谷惟恭. CeO2-ZrO2固溶体単結晶の育成, 第12回日本セラミックス協会関東支部研究発表会, 第12回日本セラミックス協会関東支部研究発表会, No. 1A12, pp. 15, July 1996.
• 佐伯淳, 木口賢紀, 篠崎和夫, 水谷惟恭. Y-PSZ結晶中における単斜相の析出方位と外部応力印加による配向性変化, 日本セラミックス協会第１２回関東支部研究発表会, 日本セラミックス協会第１２回関東支部研究発表会, No. 2A7, pp. 43, July 1996.
• 木口賢紀, 佐伯淳, 篠崎和夫, 水谷惟恭. ジルコニアの強弾性ドメインスイッチングにおける臨界応力と添加希土類イオンとの関係, 1996年日本セラミックス協会年会予稿集, 1996年日本セラミックス協会年会予稿集, No. 3A04, pp. 460, Mar. 1996.
• 佐伯淳, 木口賢紀, 水谷惟恭. ジルコニアの電気抵抗の圧縮応力依存性, 日本セラミックス協会1995年年会予稿集, 日本セラミックス協会1995年年会予稿集, No. 1B06, pp. 29, Apr. 1995.
• 木口賢紀, 佐伯淳, 篠崎和夫, 水谷惟恭. ジルコニア結晶におけるドメインスイッチングの酸素欠損濃度依存性, 第10回日本セラミックス協会関東支部研究発表会, 第10回日本セラミックス協会関東支部研究発表会, No. 57, pp. 57, July 1994.

その他の論文・著書など

• 木口賢紀, 今野豊彦, 脇谷尚樹, 篠崎和夫. 収差補正TEM によるZrO₂超薄膜における構造遷移層の解明, まてりあ, Vol. 48, No. 12, p. 599, Dec. 2009.
• 木口賢紀, 今野豊彦, 脇谷尚樹, 篠崎和夫. 収差補正TEM によるZrO₂超薄膜における構造遷移層の解明, まてりあ, Vol. 48, No. 12, p. 599, Dec. 2009.
• 木口賢紀. ランタン-タンタル混合ドープにより界面電気特性を向上した次世代ジルコニアゲート絶縁膜の創製, 財団法人　池谷科学技術振興財団　平成17年度年報, Vol. 17, pp. 132-138, Jan. 2007.
• 篠崎和夫, 木口賢紀, 佐伯淳, 脇谷尚樹, 水谷惟恭. バッファーレイヤーのセラミック薄膜への適用, セラミックス, セラミックス, Vol. 38, No. 7, pp. 485-490, 2003.
• 木口賢紀. 加熱TEM観察を利用したPb(Zr,Ti)O₃強誘電体薄膜における残留応力のin-situ測定による強誘電体メモリ特性の向上に関する研究, 村田学術振興財団年報, 村田学術振興財団年報, Vol. 15, pp. 38-42, Dec. 2001.
• Naoki Wakiya, Ji-Won Moon, Takanori Kiguchi, Kazuo Shinozaki, Nobuyasu Mizutani. Effect of Thickness on the Dielectric Properties of Pb(Mg1/3Nb2/3)O3(PMN) Thin Film Prepared by Sol-Gel Method, Proceedings of the Eleventh IEEE International Symposium on Applications of Ferroelectrics, pp. 97-98, 1998.
• 木口賢紀, 佐伯淳, 篠崎和夫, 水谷惟恭. ZrO2と強弾性ドメインスイッチング, 材料科学, Vol. 33, No. 4, pp. 177-179, 1996.

特許など

• 篠崎和夫, 高　鉉龍, 脇谷尚樹, 木口賢紀, 近藤　正雄, 丸山　研二. ペロブスカイト型酸化物質薄膜の成膜方法および積層体. 特許. 公開. 国立大学法人東京工業大学, 富士通株式会社. 2007/09/11. 特願2007-236002. 2009/04/02. 特開2009-070926. 2009.

学位論文

• 部分安定化ZrO₂結晶の強弾性ドメインスイッチング現象とその機構に関する研究,  本文,  Doctor of Engineering,  Tokyo Institute of Technology,  1997/12/--, 
• ,  Master of Engineering,  Tokyo Institute of Technology,  1995/03/--, 
• ,  Bachelor of Engineering,  National Institution for Academic Degrees,  1995/02/--, 

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