@article{CTT100604479,
  author = {Yusuke Kobayashi and Kuniyuki KAKUSHIMA and Ahmet Parhat and V.Rampogal Rao and KAZUO TSUTSUI and HIROSHI IWAI},
  title = {Analysis of dependence of short-channel effects in double-gate MOSFETs on channel thickness},
  journal = {Microelectronics Reliability 50},
  year = 2010,
}

@inproceedings{CTT100598280,
  author = {Yusuke Kobayashi and Kuniyuki KAKUSHIMA and Ahmet Parhat and V.Ramgopal Rao and KAZUO TSUTSUI and HIROSHI IWAI},
  title = {Short-channel effects on FinFETs induced by inappropriate fin widths},
  booktitle = {},
  year = 2009,
}

@inproceedings{CTT100585445,
  author = {小林勇介 and 角嶋邦之 and パールハットアヘメト and V.R. Rao and 筒井一生 and 岩井洋},
  title = {FinFETの構造ばらつきによるオン電流のばらつきの検討},
  booktitle = {第56回応用物理学関係連合講演会予稿集},
  year = 2009,
}

@inproceedings{CTT100585126,
  author = {小林勇介 and 角嶋邦之 and パールハットアヘメト and ラオ ラムゴパル and 筒井一生 and 岩井洋},
  title = {FinFETの閾値変動における短チャネル効果による影響の切り分け},
  booktitle = {秋季第69回応用物理学会学術講演会予稿集},
  year = 2008,
}

@inproceedings{CTT100576403,
  author = {小林 勇介 and 角嶋邦之 and パールハットアヘメト and 筒井一生 and V.R. Rao and 岩井洋},
  title = {FinFETにおけるショートチャンネル効果のフィン幅依存症},
  booktitle = {春季第55回応用物理学会学術講演会予稿集},
  year = 2008,
}

@inproceedings{CTT100533619,
  author = {小林勇介 and 筒井一生 and 角嶋邦之 and V. Hariharan and V.R. Rao and パールハットアヘメト and 岩井洋},
  title = {FinFETのSpacer領域形状変化のデバイス特性への影響},
  booktitle = {春季第54回応用物理学会学術講演会予稿集},
  year = 2007,
}