国際会議発表 (査読有り)

• Michihiro Shintani, Takumi Uezono, Tomoyuki Takahashi, Hiroyuki Ueyama, Takashi Sato, Kasumi Hatayama, Takashi Aikyo, Kazuya Masu. An Adaptive Test for Parametric Faults Based on Statistical Timing Information, IEEE Asian Test Symposium, IEEE Asian Test Symposium, IEEE Asian Test Symposium, pp. 151-156, Nov. 2009.

国内会議発表 (査読なし・不明)

• 新谷 道広, 高橋 知之, 植山 寛之, 上薗 巧, 佐藤 高史, 畠山 一実, 相京 隆, 益 一哉. 統計的タイミング情報に基づく適応型テスト, 2009 年 電子情報通信学会総合大会, D-10-16, Mar. 2009.

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