国際会議発表 (査読なし・不明)

• C. Dou, 向井 弘樹, Kuniyuki KAKUSHIMA, Ahmet Parhat, KAZUO TSUTSUI, 西山彰, Nobuyuki Sugii, KENJI NATORI, takeo hattori, HIROSHI IWAI. Resistive switching behaviors of ReRAM having W/CeO2/Si/TiN structure, 219th ECS Meeting, 2011.

国内会議発表 (査読なし・不明)

• 竇春萌, 向井弘樹, 角嶋邦之, パールハットアヘメト, 筒井一生, 西山彰, 杉井信之, 名取研二, 服部健雄, 岩井洋. Feasibility study of Ce oxide for resistive RAM application, 複合創造領域シンポジウム, 2010.

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