|
研究業績一覧 (1件)
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 全件表示
国際会議発表 (査読なし・不明)
-
Shuhei Hosoda,
K. Tuokedaerhan,
Kuniyuki KAKUSHIMA,
片岡好則,
西山彰,
Nobuyuki Sugii,
Hitoshi Wakabayashi,
KAZUO TSUTSUI,
Kenji Natori,
HIROSHI IWAI.
Reliability of La-silicate MOS capacitors with tungsten carbide gate electrode for scaled EOT,
ECS 224nd Meeting,
ECS Transactions,
Vol. 58,
No. 7,
pp. 61-64,
Oct. 2013.
[ BibTeX 形式で保存 ]
[ 論文・著書をCSV形式で保存
]
[ 特許をCSV形式で保存
]
|