@inproceedings{CTT100681294,
  author = {長谷川淳一 and 野口宗隆 and 中田修平 and 須藤建瑠 and 岩崎孝之 and 小寺哲夫 and 古橋壮之 and 西村正 and 波多野睦子},
  title = {DLTS法による窒化後酸化SiC-MOSFETの界面準位評価},
  booktitle = {},
  year = 2014,
}

@inproceedings{CTT100674010,
  author = {雷 一鳴 and 宗清修 and 角嶋邦之 and 川那子高暢 and 片岡好則 and 西山彰 and 杉井信之 and 若林整 and 筒井一生 and 名取研二 and 岩井洋 and 古橋 壮之 and 三浦 成久 and 山川 聡},
  title = {ATR-FTIR法を用いた熱処理によるLa2O3/SiC界面反応の解析},
  booktitle = {},
  year = 2014,
}