論文

• Gaku Okuma, Naoya Saito, Kotaro Mizuno, Yoshiki Iwazaki, Hiroshi Kishi, Akihisa Takeuchi, Masayuki Uesugi, Fumihiro Wakai. Microstructural evolution of electrodes in sintering of multi-layer ceramic capacitors (MLCC) observed by synchrotron X-ray nano-CT, Acta Materialia, Elsevier, Vol. 206, 116605, Mar. 2021.

国際会議発表 (査読有り)

• Gaku Okuma, Naoya Saito, Kotaro Mizuno, Fumihiro Wakai. Reliability analysis of electronic device by using synchrotron X-ray nano-CT : Microstructural evolution of electrodes of MLCC, International Conference on the Science and Technology for Advanced Ceramics (STAC-12), July 2021.

国内会議発表 (査読なし・不明)

• 大熊 学, 斉藤 直哉, 若井 史博, 竹内 晃久, 上杉 健太朗, 水野 高太郎, 岩崎 誉志紀, 岸 弘志. 放射光X線ナノCTによる電子デバイスの信頼性解析~MLCCの電極構造形成プロセス~, バルクセラミックスの信頼性に関するワークショップ, Jan. 2021.
• 斉藤 直哉, 大熊 学, 水野 高太郎, 岩崎 誉志紀, 岸 弘志, 竹内 晃久, 上杉 健太朗, 若井 史博. 積層セラミックスコンデンサー(MLCC)焼成過程における電極微構造変化の放射光X線ナノCT観察, 第59回セラミックス基礎科学討論会, Jan. 2021.
• 大熊学, 斉藤直哉, 竹内晃久, 上杉健太朗, 水野高太郎, 岩崎誉志紀, 岸弘志, 若井史博. 放射光X線ナノCTを用いた積層セラミックスコンデンサーの焼成過程における緻密化挙動の3D解析, 第2回 3次元可視化による機能性セラミックス製造プロセス基礎科学に関する研究会, Mar. 2020.

その他の論文・著書など

• 大熊学, 斉藤直哉, 水野高太郎, 若井史博. 放射光X線ナノCTによる電子デバイスの信頼性解析 ー MLCCの電極構造形成プロセスー, セラミックス, 日本セラミックス協会, Vol. 56, No. 1, pp. 39-43, Jan. 2021.

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