国内会議発表 (査読有り)

• 田口大, 細川英機, 間中孝彰, 岩本光正. 熱刺激電流測定・光EFISHG同時測定系の構築とAu/-NPD/polyimide/IZO積層界面のトラップ解放過程の評価, 2016年電子情報通信学会ソサイエティ大会, Sept. 2016.
• 細川英機, 田口大, 間中孝彰, 岩本光正. 熱刺激電流(TSC)-EFISHG及びCMSによるMIS構造素子(IZO/polyimide/α-NPD /Au)のトラップ評価, 2016年春季 第63回応用物理学会春季学術講演会, Mar. 2016.

国内会議発表 (査読なし・不明)

• 細川英機, 田口大, 間中孝彰, 岩本光正. 熱刺激電流及び電界誘起光第二次高調波発生法を用いたIZO/polyimide/pentacene/Au素子のトラップ評価, 2015年秋季 第76回応用物理学会秋季学術講演会, Sept. 2015.
• 田口大, 細川英機, 間中孝彰, 岩本光正. 熱刺激電流（ＴＳＣ）‐ＥＦＩＳＨＧ同時測定によるIZO/polyimide/pentacene/Au素子のキャリアトラップ評価, 2015年春季 第62回応用物理学会春季学術講演会, Mar. 2015.
• 田口大, 細川英機, 間中孝彰, 岩本光正. 熱刺激電流（ＴＳＣ）‐ＥＦＩＳＨＧ同時測定によるIZO/polyimide/pentacene/Au素子のキャリアトラップ評価, 2015年春季 第62回応用物理学会春季学術講演会, Jan. 2015.

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