論文

• Takayuki Iwasaki, Taisuke Suwa, Junya Yaita, Hiromitsu Kato, Toshiharu Makino, Masahiko Ogura, Daisuke Takeuchi, Satoshi Yamasaki, Mutsuko Hatano. Observation of Interface Defects in Diamond Lateral p-n-Junction Diodes and Their Effect on Reverse Leakage Current, IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, Vol. 64, No. 8, pp. 3298-3302, July 2017.
• T. Suwa, T. Iwasaki, K. Sato, H. Kato, T Makino, M. Ogura, D. Takeuchi, S. Yamasaki, M. Hatano. Normally-Off Diamond Junction Field-Effect Transistors with Submicron Channel, IEEE Electron Device Lett., No. 37, pp. 209, Feb. 2016.

国際会議発表 (査読有り)

• T. Suwa, T. Iwasaki, K. Sato, H. Kato, T. Makino, M. Ogura, D. Takeuchi, S. Yamasaki, M. Hatano. Normally-off operation of diamond junction FETs, Hasselt Diamond Workshop 2015, Feb. 2014.

国内会議発表 (査読なし・不明)

• 諏訪 泰介, 岩崎 孝之, 加藤 宙光, 牧野 俊晴, 小倉 政彦, 竹内 大輔, 山﨑 聡, 波多野 睦子. 縦型ダイヤモンドJFETの作製, 第63回応用物理学会春季学術講演会, Mar. 2016.
• 諏訪 泰介, 岩崎 孝之, 佐藤 一樹, 加藤 宙光, 牧野 俊晴, 小倉 政彦, 竹内大輔, 山崎 聡, 波多野 睦子. ダイヤモンドJFETのノーマリーオフ動作, 第62回応用物理学会春季学術講演会, Mar. 2015.

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