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神岡純 研究業績一覧 (35件)
論文
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J. Kamioka,
R. Matsuda,
R. Mizokuchi,
J. Yoneda,
T. Kodera.
Evaluation of a physically definedee silicon quanum dot for design of matching circuit for RF reflectometry charge sensing,,
AIP Advances,
Vol. 13,
Issue 3,
Page 035219,
Mar. 2023.
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J.Kamioka,
Y. Kawamura,
R. Komaru,
M. Hangai,
Y. Kamo,
T. Kodera,
S.Shinjo.
X-Band GaN Chipsets for Cost-Effective 20W T/R Modules,
IEICE Transactions on Electronics,
Issue 5,
pp. 194-202,
May 2022.
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K. Takeda,
J. Kamioka,
T. Otsuka,
J. Yoneda,
T. Nakajima,
M. R. Delbecq,
G. Allison,
T. Kodera,
Shunri Oda,
S. Tarucha.
A fault-tolerant addressable spin qubit in a natural silicon quantum dot,
Science Advanced,
vol. 2,
No. 8,
p. e1600694-1-6,
Aug. 2016.
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J. Kamioka,
T. Kodera,
K. Takeda,
T. Obata,
S. Tarucha,
S. Oda.
Charge noise analysis of metal oxide semiconductor dual-gate Si/SiGe quantum point contacts,
Journal of Applied Physics,
Vol. 115,
pp. 203709 (5 pages),
May 2014.
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K. Takeda,
T. Obata,
Y. Fukuoka,
W. M. Akhtar,
J. Kamioka,
T. Kodera,
S. Oda,
S. Tarucha.
Characterization and suppression of low-frequency noise in Si/SiGe quantum point contacts and quantum dots,
Appl. Phys. Lett,
Vol. 102,
pp. 123113 (3 pages),
Mar. 2013.
国際会議発表 (査読有り)
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R. Matsuda,
J. Kamioka,
R. Mizokuchi,
J. Yoneda,
T. Kodera.
Evaluation of parasitic circuit component effects on a matching circuit for RF reflectometry of a quantum dot,
2023 Asia-Pacific Workshop on Fundamentals and Applications of Advanced Semiconductor Devices (AWAD2023),
July 2023.
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K. Takeda,
J. Yoneda,
T. Otsuka,
T. Nakajima,
M. R. Delbecq,
G. Allison,
J.Kamioka,
T. Honda,
T. Kodera,
S. Oda,
Y. Hoshi,
N. Usami,
K. M. Itoh,
S. Tarucha.
Microwave induced frequency shift and its quadrature compensation for Si/SiGe spin qubit,
Silicon Quantum Electronics Workshop 2017,
Aug. 2017.
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K. Takeda,
J. Kamioka,
T. Obata,
T. Otsuka,
T. Nakajima,
M. R. Delbecq,
S. Amaha,
J. Yoneda,
A. Noiri,
R. Sugawara,
T. Kodera,
S. Oda,
S. Tarucha.
A strongly driven single-spin qubit,
Spintech VIII,
Aug. 2015.
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K. Takeda,
J. Kamioka,
T. Obata,
T. Otsuka,
T. Nakajima,
M. R. Delbecq,
S. Amaha,
J. Yoneda,
G. Allison,
A. Noiri,
R. Sugawara,
T. Kodera,
S. Oda,
S. Tarucha.
Fast addressable single-spin qubits in a Si/SiGe double quantum dot with a micro-magnet,
Silicon Quantum Electronics Workshop 2015,
Aug. 2015.
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Kenta Takeda,
Jun Kamioka,
Toshiaki Obata,
Tomohiro Otsuka,
Takashi Nakajima,
Matthieu Delbecq,
Shinichi Amaha,
Jun Yoneda,
Akito Noiri,
Retsu Sugawara,
Tetsuo Kodera,
Shunri Oda,
Seigo Tarucha.
Single-electron spin resonance in a Si/SiGe double quantum dot with a micromagnet,
APS March Meeting 2015,
Vol. 60,
No. 1,
2015.
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J.Kamioka,
T.Kodera,
T.Obata,
K.Takeda,
W.M.Akhtar,
S.Tarucha,
S.Oda.
Reduction of Charge Noise in Dual-Gate Si/SiGe Quantum Point Contact,
Solid State Devices and Materials Conference,
Sept. 2013.
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T. Obata,
K. Takeda,
J. Kamioka,
T. Kodera,
W.M. Akhtar,
K. Sawano,
S. Oda.
Charge-Noise-Free Lateral Quantum Dot Devices with Undoped Si/SiGe Wafer” the 12th Asia Pacific Physics Conference (APPC12),
the 12th Asia Pacific Physics Conference (APPC12),
July 2013.
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Jun Kamioka,
Tetsuo Kodera,
Toshiaki Obata,
Kenta Takeda,
Waseem. M. Akhtar,
Seigo Tarucha,
Shunri Oda.
Fabrication of MOS structure gate-defined Si/SiGe quantum dot device,
IEEE EDS WIMNACT-37,
P-3,
2013.
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Takayoshi Kuga,
Luca Crespi,
Jun Kamioka,
Daichi Suzuki,
Tetsuo Kodera,
Shunri Oda,
Yukio Kawano.
Terahertz detection with antenna-coupled heavily P-doped Si quantum dots,
IEEE EDS, WIMNACT-37,
P-14,
2013.
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J.Kamioka,
T. Kodera,
K. Horibe,
Y. Kawano,
SHUNRI ODA.
Fabrication and evaluation of heavily P-doped Si quantum dot and back-gate induced Si quantum dot,
IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop,
2012.
国際会議発表 (査読なし・不明)
国内会議発表 (査読なし・不明)
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溝口 来成,
松田 凌,
西山 伸平,
神岡 純,
米田 淳,
小寺 哲夫.
シャントインダクタを含む整合回路を用いた量子ドットのRF反射測定,
第71回応用物理学会春季学術講演会,
Mar. 2024.
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松田 凌,
神岡 純,
溝口 来成,
米田 淳,
小寺 哲夫.
RF反射測定における寄生成分の評価とインピーダンス整合への影響,
第84回 応用物理学会秋季学術講演会,
Sept. 2023.
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松田 凌,
神岡 純,
溝口 来成,
米田 淳,
小寺 哲夫.
物理形成量子ドットにおけるRF反射測定に適した単段整合回路の設計・評価,
第70回応用物理学会春季学術講演会,
Mar. 2023.
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松田 凌,
神岡 純,
溝口 来成,
米田 淳,
小寺 哲夫.
RF 反射測定の性能向上に向けた量子ドットの S パラメータ測定と整 合回路の設計,
第83回応用物理学会秋季学術講演会,
Sept. 2022.
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松田 凌,
神岡 純,
溝口 来成,
米田 淳,
小寺 哲夫.
RF 反射測定の性能向上に向けた量子ドットの S パラメータ測定と整 合回路の設計,
第83回応用物理学会秋季学術講演会,
Sept. 2022.
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二谷 時緒,
溝口 来成,
神岡 純,
米田 淳,
小寺 哲夫.
スピン量子ビット読み出し回路高密度化に向けた極低温アクティブイ ンダクタに関する研究,
第83回応用物理学会秋季学術講演会,
Sept. 2022.
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K. Takeda,
J. Kamioka,
J. Yoneda,
T. Otsuka,
M. R. Delbecq,
G. Allison,
T. Nakajima,
T. Kodera,
S. Oda,
S. Tarucha.
AC Stark effect and optimal control of a strongly driven Si/SiGe quantum dot spin qubit,
Silicon Quantum Electronics Workshop,
June 2016.
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武田健太,
神岡純,
小幡利顕,
大塚朋廣,
中島峻,
Matthieu Delbecq,
天羽真一,
米田淳,
Giles Alison,
野入亮人,
菅原烈,
小寺哲夫,
小田俊理,
樽茶清悟.
Si2重量子ドット中の単一電子スピンの高速独立操作,
日本物理学会 2015秋季大会,
Sept. 2015.
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本田拓夢,
武田健太,
神岡純,
米田淳,
Marian Marx,
小寺哲夫,
樽茶清悟,
小田俊理.
アンドープ基板を用いたSi/SiGe量子ドットデバイスのノイズ評価,
第75回応用物理学会秋季学術講演会,
Sept. 2014.
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神岡純,
武田健太,
小幡利顕,
小寺哲夫,
樽茶清悟,
小田俊理.
Si/SiGe二重量子ドットによるパウリスピンブロッケードの観測,
第61回応用物理学会春季学術講演会,
Mar. 2014.
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陸昂義,
神岡純,
小寺哲夫,
小田俊理,
河野行雄.
広帯域アンテナを結合したシリコン量子ドットによるテラヘルツ波検出,
第74回応用物理学会秋季学術講演会,
Sept. 2013.
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小幡利顕,
武田健太,
J. Kierig,
A. Wild,
J. Sailer,
神岡純,
小寺哲夫,
W. M. Akhtar,
小田俊理,
D. Bougeard,
G. Abstreiter,
樽茶清悟.
同位体制御したSiを用いたSi/SiGeにおけるダブルドット,
日本物理学会 2013年秋季大会,
Sept. 2013.
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神岡純,
小寺哲夫,
武田健太,
小幡利顕,
W. M. Akhtar,
樽茶清悟,
小田俊理.
Si/SiGe系MOS構造量子ポイントコンタクトの特性評価,
第74回応用物理学会秋季学術講演会,
Sept. 2013.
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神岡純,
小寺哲夫,
武田健太,
小幡利顕,
Waseem. M. Akhtar,
樽茶清悟,
小田俊理.
Si/SiGe系MOS構造量子ポイントコンタクトの特性評価,
2013.
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神岡 純,
小寺哲夫,
武田健太,
小幡利顕,
吉田勝治,
樽茶清悟,
小田俊理.
MOS構造gateを有するSi/SiGe量子ドットデバイスの作製,
2012年 秋季 第73回応用物理学会学術講演会,
Sept. 2012.
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神岡 純,
小寺哲夫,
武田健太,
小幡利顕,
吉田勝治,
樽茶清悟,
小田俊理.
MOS構造gateを有するSi/SiGe量子ドットデバイスの作製,
第73回応用物理学会学術講演会,
2012.
学位論文
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Research on semiconductor monolithic microwave integrated circuits for the advanced information and communication network infrastructure,
Thesis,
Doctor (Engineering),
Tokyo Institute of Technology,
2023/03/26,
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Research on semiconductor monolithic microwave integrated circuits for the advanced information and communication network infrastructure,
Summary,
Doctor (Engineering),
Tokyo Institute of Technology,
2023/03/26,
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Research on semiconductor monolithic microwave integrated circuits for the advanced information and communication network infrastructure,
Exam Summary,
Doctor (Engineering),
Tokyo Institute of Technology,
2023/03/26,
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